8 hüvelykes 200 mm-es SiC epitaxiális ostya

A 8 hüvelykes SiC epitaxiális ostya a széles sávszélességű félvezető technológia legújabb fejlesztését jelenti. A 200 mm-es SiC szubsztrátra épülő, kiváló minőségű epitaxiális réteggel ellátott terméket úgy tervezték, hogy támogassa a skálázható, nagy hatékonyságú teljesítményű eszközök gyártását.

8 hüvelykes 200 mm-es SiC epitaxiális ostyaA 8 hüvelykes SiC epitaxiális ostya a széles sávszélességű félvezető technológia legújabb fejlesztését jelenti. A 200 mm-es SiC szubsztrátra épülő, kiváló minőségű epitaxiális réteggel ellátott terméket úgy tervezték, hogy támogassa a skálázható, nagy hatékonyságú teljesítményű eszközök gyártását.

A kisebb méretű ostyákhoz képest a 8 hüvelykes SiC-ostyák jelentősen növelik a felhasználható területet, ami nagyobb eszközkibocsátást tesz lehetővé ostyánként, és csökkenti a chipenkénti költségeket. Ez kritikus megoldást jelent a szilíciumkarbid teljesítményeszközök nagyüzemi gyártására áttérő iparágak számára.

A SiC epitaxiális ostyák egyesítik a szilícium-karbid belső előnyeit, beleértve a széles sávszélességet, a nagy elektromos átütési mezőt és a kiváló hővezető képességet, az eszközgyártáshoz szabott, pontosan szabályozott epitaxiális rétegekkel. Ezeket az ostyákat széles körben használják a következő generációs MOSFET-ekben, Schottky-diódákban és integrált teljesítménymodulokban.

Főbb specifikációk

Paraméter Érték
Átmérő 200 ± 0,5 mm
Polytype 4H-SiC
Vezetőképesség típusa N-típusú
Vastagság 700 ± 50 μm
Felületkezelés Kétoldalas CMP polírozott
Orientáció 4.0° tengelyen kívül ±0.5°
Notch Szabványos rovátkolás orientáció
Edge profil Lefutás / lekerekített él
Felületi érdesség Szub-nanométeres szint
Csomagolás Kazetta vagy egy ostyát tartalmazó tartály

Tipikus fajlagos ellenállás:

  • N-típusú: 0,015-0,028 Ω-cm
  • Félszigetelő: ≥1E7 Ω-cm

Elérhető osztályok:

  • Nulla MPD fokozat
  • Gyártási fokozat
  • Kutatási fokozat
  • Dummy fokozat

8 hüvelykes 200 mm-es SiC epitaxiális ostyaEpitaxiális réteg képességek

Az epitaxiális réteg növesztése fejlett kémiai gőzfázisú leválasztási (CVD) technológiával történik, amely lehetővé teszi a vastagság, az adalékkoncentráció és az egyenletesség pontos szabályozását.

A rendelkezésre álló testreszabási lehetőségek közé tartozik:

  • N-típusú vagy P-típusú epitaxiális rétegek
  • Állítható epi vastagság a különböző eszközszerkezetekhez
  • Egyenletes adalékolási profilok a teljes ostyán
  • Alacsony hibasűrűség a magas eszközhozamért

A kiváló minőségű epitaktika elengedhetetlen a stabil elektromos teljesítmény és a hosszú távú megbízhatóság eléréséhez a tápegységekben.

8 hüvelykes 200 mm-es SiC epitaxiális ostyaGyártási folyamat

Szubsztrát előkészítés
A nagy tisztaságú monokristályos SiC szubsztrátokat magas hőmérsékletű növekedési módszerekkel állítják elő, és polírozással érik el az ultraalacsony felületi érdességet.

Epitaxiális növekedés
Az epitaxiaréteget magas hőmérsékleten, CVD-rendszerek segítségével helyezik le, ami biztosítja az egyenletes vastagságot és az egyenletes anyagtulajdonságokat a 200 mm-es ostyán.

Doppingellenőrzés
Az epitaxiális növesztés során pontos adalékolást alkalmaznak a különböző eszközarchitektúrák követelményeinek való megfelelés érdekében.

Méréstechnika és ellenőrzés
Az egyenletes minőség biztosítása érdekében minden egyes ostyát átfogó vizsgálatoknak vetnek alá, beleértve a felületelemzést, a hibák feltérképezését és az elektromos jellemzést.

Előnyök

Skálázható gyártás
A 8 hüvelykes ostyaméret jelentősen növeli az egy ostyára jutó chipkibocsátást, javítja a gyártás hatékonyságát és csökkenti az egy eszközre jutó költségeket.

Nagy hatékonyságú teljesítmény
A SiC anyagtulajdonságai alacsonyabb kapcsolási veszteségeket, nagyobb teljesítménysűrűséget és jobb energiahatékonyságot tesznek lehetővé.

Kiváló hőkezelés
A nagy hővezető képesség támogatja a stabil működést nagy teljesítmény mellett, és csökkenti a hűtési igényeket.

Alacsony hibasűrűség
A fejlett kristálynövesztési és epitaxiális eljárások biztosítják a nagy hozamot és a megbízható eszközteljesítményt.

Jövőre kész platform
A 8 hüvelykes SiC ostyák megfelelnek a félvezetőiparban a nagyobb ostyaformátumok és az automatizált tömeggyártás felé mutató trendnek.

Alkalmazások

Elektromos járművek
Vontatási inverterekben, fedélzeti töltőkben és DC-DC átalakítókban használatos. A nagyobb ostyaméret támogatja az EV-platformok nagy hatékonyságú tápegységeinek tömeggyártását.

Megújuló energiarendszerek
Napelemes inverterekben és szélerőművi átalakítókban alkalmazzák, ahol a hatékonyság és a megbízhatóság kritikus fontosságú a hosszú távú működéshez.

Ipari teljesítményelektronika
Támogatja a stabil és hatékony energiaátalakítást igénylő motorhajtásokat, automatizálási rendszereket és nagy teljesítményű berendezéseket.

5G és RF infrastruktúra
Lehetővé teszi a kommunikációs rendszerekben és bázisállomásokon használt nagyfrekvenciás és nagy teljesítményű RF-összetevőket.

Fogyasztói teljesítményelektronika
Kompakt, nagy hatékonyságú tápegységekben és gyorstöltő rendszerekben használatos.

GYIK

1. kérdés: Mi a 8 hüvelykes SiC ostyák fő előnye?
A nagyobb ostyaméret növeli az egy ostyára jutó chipek számát, ami jelentősen csökkenti az egy eszközre jutó gyártási költségeket és javítja a gyártás hatékonyságát.

2. kérdés: Kiforrott a 8 hüvelykes SiC technológia?
Jelenleg a kísérleti gyártásból a korai szakaszban lévő tömeggyártásba lép át, és egyre nagyobb mértékben alkalmazzák a fejlett félvezetőgyártásban.

3. kérdés: Az epitaxiális rétegek testre szabhatók?
Igen, az adalékolás típusa, a vastagság és az elektromos tulajdonságok testre szabhatók, hogy megfeleljenek az adott eszköz követelményeinek.

4. kérdés: A meglévő gyártósorok kompatibilisek a 8 hüvelykes ostyákkal?
Néhány berendezés korszerűsítésére lehet szükség, de sok modern gyár már készül a 200 mm-es SiC-feldolgozásra.

Értékelések

Még nincsenek értékelések.

„8 Inch 200mm SiC Epitaxial Wafer” értékelése elsőként

Az e-mail címet nem tesszük közzé. A kötelező mezőket * karakterrel jelöltük