El equipo de unión de obleas es un sistema de alto rendimiento diseñado para el envasado avanzado de semiconductores, la fabricación de MEMS y la integración de semiconductores de tercera generación. Admite obleas de 2 a 12 pulgadas y permite la unión directa a temperatura ambiente y la unión hidrofílica, por lo que resulta especialmente adecuado para la unión de Si-Si, SiC-SiC y materiales heterogéneos (Si-SiC, GaN, zafiro, etc.).

Diseñado tanto para entornos de I+D como para producción en serie, el sistema integra alineación de ultraprecisión, control de presión y temperatura en bucle cerrado y condiciones de unión en vacío ultraalto, lo que garantiza una alta resistencia de unión, una excelente uniformidad de la interfaz y una baja densidad de defectos.

Características principales

1. Tecnología avanzada de unión a temperatura ambiente

  • Elimina el estrés térmico y el alabeo de la oblea
  • Permite unir materiales sensibles a la temperatura y disímiles
  • Favorece la adhesión hidrófila y la adhesión activada por plasma

2. Alineación de alta precisión

  • Precisión de alineación de la marca: ≤ ±2 μm
  • Precisión de alineación de bordes: ≤ ±50 μm
  • Actualización opcional al sistema de alineación submicrónica

3. Alta resistencia de adhesión y calidad de la interfaz

  • ≥ 2,0 J/m² (unión directa Si-Si a temperatura ambiente)
  • Hasta ≥5 J/m² con activación de la superficie del plasma
  • Excelente limpieza de la interfaz en condiciones UHV

4. Amplia compatibilidad de materiales

Admite la unión de:

  • Semiconductores: Si, SiC, GaN, GaAs, InP
  • Materiales ópticos: Zafiro, Cristal
  • Materiales funcionales: LiNbO₃, Diamante

5. Capacidad de proceso flexible

  • Tamaño de la oblea: 2″ - 12″.
  • Compatible con muestras de forma irregular
  • Módulos opcionales: precalentamiento / recocido (RT-500°C)

Especificaciones técnicas

Parámetro Especificación
Métodos de adhesión Adhesión directa / adhesión activada por plasma
Tamaño de la oblea 2″ - 12″
Rango de presión 0 - 10 MPa
Fuerza máxima 100 kN
Temperatura Temperatura ambiente - 500°C (opcional)
Nivel de vacío ≤ 5 × 10-⁶ Torr
Precisión de alineación ≤ ±2 μm (Marca), ≤ ±50 μm (Borde)
Fuerza de adhesión ≥ 2,0 J/m² (RT Si-Si)

Sistema de control inteligente

  • Pantalla táctil industrial HMI
  • Admite el almacenamiento de más de 50 recetas de procesos
  • Control en bucle cerrado de presión-temperatura en tiempo real
  • Rendimiento estable y repetible del proceso

Seguridad y fiabilidad

  • Triple protección de enclavamiento (presión / temperatura / vacío)
  • Sistema de parada de emergencia
  • Diseñado para ser compatible con salas blancas de clase 100

Configuraciones opcionales

  • Sistema robotizado de manipulación de obleas
  • Interfaz de comunicación SECS/GEM (lista para la integración en fábrica)
  • Módulo de inspección en línea
  • Unidad de activación de la superficie de plasma

Aplicaciones típicas

1. Embalaje de MEMS

Sellado hermético para sensores como acelerómetros y giroscopios

2. Integración de CI en 3D

Apilado de obleas para TSV y envasado avanzado

3. Dispositivos semiconductores compuestos

Unión de dispositivos de potencia GaN / SiC y transferencia de capas

4. Sensores de imagen CMOS (CIS)

Unión a baja temperatura de obleas CMOS y sustratos ópticos

5. Biochips y microfluidos

Unión fiable para dispositivos lab-on-chip

Ejemplo de proceso

Unión de obleas de LiNbO₃ - SiC (temperatura ambiente)

  • Consigue una interfaz de unión fuerte y uniforme
  • Verificado mediante imágenes TEM transversales
  • Adecuado para aplicaciones de alta frecuencia y optoelectrónicas

PREGUNTAS Y RESPUESTAS

P1: ¿Por qué elegir el pegado de obleas a temperatura ambiente en lugar del pegado térmico?

La unión a temperatura ambiente evita desajustes térmicos y tensiones, por lo que es ideal para materiales heterogéneos y mejora el rendimiento en envases avanzados.

P2: ¿Qué materiales pueden adherirse?

El sistema admite una amplia gama de materiales:

  • Semiconductores: Si, SiC, GaN
  • Óxidos: SiO₂, LiNbO₃
  • Metales: Cu, Au

Por qué elegir este sistema

  • Rendimiento demostrado en la fabricación de dispositivos de potencia de SiC
  • Resistencia de adhesión verificada mediante pruebas de laboratorio y análisis TEM.
  • Diseñado tanto para institutos de investigación como para fábricas industriales
  • La arquitectura modular garantiza la escalabilidad y capacidad de actualización a largo plazo

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