Sistema di impiantazione ionica ad alta temperatura a fascio medio Ai350HT per la lavorazione di wafer di silicio e SiC da 6/8 di pollice

Il sistema di impiantazione ionica ad alta temperatura Ai350HT (Medium Beam) è progettato per linee di produzione di wafer di silicio da 6 e 8 pollici e per applicazioni di processo SiC. Si tratta di un implanter ionico a media corrente sviluppato per processi di drogaggio ad alta energia e ad alta temperatura nella fabbricazione di semiconduttori avanzati.

Sistema di impiantazione ionica ad alta temperatura a fascio medio Ai350HT per la lavorazione di wafer di silicio e SiC da 6/8 di polliceIl sistema di impiantazione ionica ad alta temperatura Ai350HT (Medium Beam) è progettato per linee di produzione di wafer di silicio da 6 e 8 pollici e per applicazioni di processo SiC. Si tratta di un implanter ionico a media corrente sviluppato per processi di drogaggio ad alta energia e ad alta temperatura nella fabbricazione di semiconduttori avanzati.

Il sistema supporta una gamma di energie da 5 keV a 350 keV, consentendo processi di impiantazione sia superficiali che profondi. È dotato di un mandrino elettrostatico ad alta temperatura in grado di funzionare fino a 500°C, consentendo una migliore attivazione del drogante e una riduzione del danno reticolare durante l'impianto. Grazie alle prestazioni stabili del fascio e al controllo di alta precisione, il sistema è adatto alla produzione di semiconduttori a base di silicio e a largo bandgap.


Caratteristiche

Capacità di impianto ad alta temperatura

Dotato di un mandrino elettrostatico per alte temperature che supporta fino a 500°C, consente di migliorare l'efficienza dell'impianto e l'attivazione del drogante per processi avanzati.

Ampia gamma di energia

L'intervallo di energia di 5-350 keV supporta requisiti di impiantazione flessibili, dalla formazione di giunzioni poco profonde ai processi di impiantazione profonda.

Controllo del fascio ad alta precisione

Fornisce prestazioni di impianto accurate con precisione angolare ≤ 0,2°, parallelismo del fascio ≤ 0,2°, uniformità ≤ 0,5% e ripetibilità ≤ 0,5%.

Prestazioni stabili del fascio

La stabilità del fascio è controllata entro 10% all'ora, garantendo una qualità di processo costante durante i lunghi cicli di produzione.

Sorgente di ioni a lunga durata

Dotato di una sorgente di ioni di metallo Al con una durata di vita di ≥150 ore, riduce la frequenza di manutenzione e migliora i tempi di attività.

Elevata capacità di produzione

Supporta una produttività di ≥ 200 wafer all'ora, adatta agli ambienti di produzione di semiconduttori.

Compatibilità di processo avanzata

Compatibile con i processi SiC e con la produzione convenzionale di semiconduttori a base di silicio.


Specifiche principali

Parametri di processo

Articolo Specifiche
Dimensione del wafer 6-8 pollici
Gamma energetica 5-350 keV
Elementi impiantati C, Al, B, P, N, He, Ar
Intervallo di dose 1E11-1E17 ioni/cm²

Prestazioni del fascio

Articolo Specifiche
Stabilità della trave ≤ 10% / ora (≤1 interruzione del fascio o arco elettrico all'ora)
Parallelismo del fascio ≤ 0.2°

Accuratezza dell'impianto

Articolo Specifiche
Gamma dell'angolo dell'impianto 0°-45°
Precisione dell'angolo ≤ 0.2°
Uniformità (1σ) ≤ 0,5% (P+, 1E14, 100 keV)
Ripetibilità (1σ) ≤ 0,5%

Prestazioni del sistema

Articolo Specifiche
Produttività ≥ 200 wafer all'ora
Temperatura massima del mandrino 500°C
Dimensioni dell'apparecchiatura 6270 × 3500 × 3000 mm
Livello di vuoto 5E-7 Torr
Perdita di raggi X ≤ 0,3 μSv/h
Modalità di scansione Scansione elettrostatica orizzontale + scansione meccanica verticale

Campi di applicazione

Produzione di semiconduttori SiC

Utilizzato nella fabbricazione di dispositivi in carburo di silicio che richiedono processi di impiantazione ionica ad alta temperatura.

Lavorazione dei semiconduttori a base di silicio

Applicabile alla produzione di circuiti integrati e CMOS su wafer da 6 e 8 pollici.

Processi di impianto ad alta temperatura

Adatto ai processi che richiedono temperature elevate per ridurre i danni al cristallo e migliorare l'attivazione del drogante.

Fabbricazione di dispositivi di potenza

Utilizzato nei dispositivi a semiconduttore di potenza che richiedono processi di impiantazione profonda e ad alta energia.

Ingegneria avanzata dei materiali

Supporta l'impiantazione ionica nei materiali per semiconduttori avanzati e negli ambienti di sviluppo dei processi.


Domande frequenti

1. Quali sono le dimensioni dei wafer supportate da Ai350HT?

Il sistema supporta wafer da 6 e 8 pollici ed è adatto alle linee di produzione di semiconduttori a base di silicio e SiC.

2. Qual è la temperatura massima supportata durante l'impianto?

Il sistema supporta l'impianto ad alta temperatura, fino a 500°C, utilizzando un mandrino elettrostatico riscaldato con serraggio meccanico.

3. Quali sono i principali vantaggi di questo sistema per i processi SiC?

Il sistema combina capacità ad alta temperatura, prestazioni stabili del fascio e compatibilità con i processi SiC, rendendolo adatto ad applicazioni di semiconduttori a largo bandgap.

Recensioni

Ancora non ci sono recensioni.

Recensisci per primo “Ai350HT Medium Beam High Temperature Ion Implantation System for 6/8 Inch SiC and Silicon Wafer Processing”

Il tuo indirizzo email non sarà pubblicato. I campi obbligatori sono contrassegnati *