Système d'implantation d'ions à faisceau moyen et à haute température Ai350HT pour le traitement des plaquettes de silicium et de carbure de silicium de 6/8 pouces

Le système d'implantation ionique à haute température Ai350HT (Medium Beam) est conçu pour les lignes de fabrication de semi-conducteurs à partir de tranches de silicium de 6 et 8 pouces, ainsi que pour les applications de traitement SiC. Il s'agit d'un implanteur ionique à courant moyen développé pour les processus de dopage à haute énergie et à haute température dans la fabrication avancée de semi-conducteurs.

Système d'implantation d'ions à faisceau moyen et à haute température Ai350HT pour le traitement des plaquettes de silicium et de carbure de silicium de 6/8 poucesLe système d'implantation ionique à haute température Ai350HT (Medium Beam) est conçu pour les lignes de fabrication de semi-conducteurs à partir de tranches de silicium de 6 et 8 pouces, ainsi que pour les applications de traitement SiC. Il s'agit d'un implanteur ionique à courant moyen développé pour les processus de dopage à haute énergie et à haute température dans la fabrication avancée de semi-conducteurs.

Le système prend en charge une gamme d'énergie allant de 5 keV à 350 keV, ce qui permet des processus d'implantation à la fois superficiels et profonds. Il est équipé d'un mandrin électrostatique à haute température capable de fonctionner jusqu'à 500°C, ce qui permet d'améliorer l'activation du dopant et de réduire les dommages au réseau pendant l'implantation. Associé à des performances de faisceau stables et à un contrôle de haute précision, le système convient à la fabrication de semi-conducteurs à base de silicium et de semi-conducteurs à large bande interdite.


Caractéristiques

Capacité d'implantation à haute température

Équipé d'un mandrin électrostatique à haute température supportant jusqu'à 500°C, il permet d'améliorer l'efficacité de l'implantation et l'activation du dopant pour les processus avancés.

Large gamme d'énergie

La gamme d'énergie de 5 à 350 keV permet de répondre à des besoins d'implantation flexibles, allant de la formation de jonctions peu profondes à des processus d'implantation profonde.

Contrôle de faisceau de haute précision

Fournit des performances d'implantation précises avec une précision angulaire ≤ 0,2°, un parallélisme de faisceau ≤ 0,2°, une uniformité ≤ 0,5% et une répétabilité ≤ 0,5%.

Performance stable du faisceau

La stabilité du faisceau est contrôlée dans la limite de 10% par heure, ce qui garantit une qualité constante du processus pendant les longs cycles de production.

Source d'ions à longue durée de vie

Équipé d'une source d'ions métal Al d'une durée de vie de ≥150 heures, réduisant la fréquence de maintenance et améliorant le temps de fonctionnement.

Capacité de production élevée

Permet un débit de ≥ 200 plaquettes par heure, adapté aux environnements de production de semi-conducteurs.

Compatibilité avec les processus avancés

Compatible avec les procédés SiC et la fabrication conventionnelle de semi-conducteurs à base de silicium.


Principales spécifications

Paramètres du processus

Objet Spécifications
Taille de la plaquette 6-8 pouces
Gamme d'énergie 5-350 keV
Éléments implantés C, Al, B, P, N, He, Ar
Gamme de doses 1E11-1E17 ions/cm²

Performance des faisceaux

Objet Spécifications
Stabilité de la poutre ≤ 10% / heure (≤1 interruption de faisceau ou arc par heure)
Parallélisme des poutres ≤ 0.2°

Précision de l'implantation

Objet Spécifications
Gamme d'angles de l'implant 0°-45°
Précision de l'angle ≤ 0.2°
Uniformité (1σ) ≤ 0,5% (P+, 1E14, 100 keV)
Répétabilité (1σ) ≤ 0,5%

Performance du système

Objet Spécifications
Débit ≥ 200 gaufres par heure
Température maximale du mandrin 500°C
Taille de l'équipement 6270 × 3500 × 3000 mm
Niveau de vide 5E-7 Torr
Fuite de rayons X ≤ 0,3 μSv/h
Mode de numérisation Balayage électrostatique horizontal + balayage mécanique vertical

Champs d'application

Fabrication de semi-conducteurs SiC

Utilisé dans la fabrication de dispositifs en carbure de silicium nécessitant des procédés d'implantation ionique à haute température.

Traitement des semi-conducteurs à base de silicium

Applicable à la fabrication de CMOS et de circuits intégrés sur des plaquettes de 6 et 8 pouces.

Procédés d'implantation à haute température

Convient aux procédés nécessitant une température élevée pour réduire les dommages aux cristaux et améliorer l'activation du dopant.

Fabrication de dispositifs de puissance

Utilisé dans les dispositifs semi-conducteurs de puissance nécessitant une implantation profonde et des processus à haute énergie.

Ingénierie des matériaux avancés

Soutien à l'implantation ionique dans les environnements de développement de matériaux et de procédés semi-conducteurs avancés.


Questions fréquemment posées

1. Quelles sont les tailles de plaquettes prises en charge par l'Ai350HT ?

Le système prend en charge les plaquettes de 6 et 8 pouces et convient aux lignes de fabrication de semi-conducteurs à base de silicium et de SiC.

2. Quelle est la température maximale supportée pendant l'implantation ?

Le système permet une implantation à haute température, jusqu'à 500°C, en utilisant un mandrin électrostatique chauffé avec serrage mécanique.

3. Quels sont les principaux avantages de ce système pour les procédés SiC ?

Le système combine une capacité à haute température, une performance de faisceau stable et une compatibilité avec les processus SiC, ce qui le rend adapté aux applications de semi-conducteurs à large bande passante.

Avis

Il n’y a pas encore d’avis.

Soyez le premier à laisser votre avis sur “Ai350HT Medium Beam High Temperature Ion Implantation System for 6/8 Inch SiC and Silicon Wafer Processing”

Votre adresse e-mail ne sera pas publiée. Les champs obligatoires sont indiqués avec *