Ai200HC.D nagy sugárnyalábos ionimplantációs rendszer 6/8 hüvelykes szilíciumszelet-feldolgozáshoz és intelligens vágási alkalmazásokhoz

Az Ai200HC.D (High Beam) ionimplantációs rendszert 6 hüvelykes és 8 hüvelykes szilíciumszelet félvezető gyártósorokhoz tervezték. Ez egy nagy áramú ionimplantáló, amelyet az integrált áramkörök gyártásában alkalmazott precíziós adalékoláshoz és fejlett folyamatok alkalmazásához fejlesztettek ki.

Az Ai200HC.D (High Beam) ionimplantációs rendszert 6 hüvelykes és 8 hüvelykes szilíciumszelet félvezető gyártósorokhoz tervezték. Ez egy nagy áramú ionimplantáló, amelyet az integrált áramkörök gyártásában alkalmazott precíziós adalékoláshoz és fejlett folyamatok alkalmazásához fejlesztettek ki.

A rendszer 5 keV-tól 180 keV-ig terjedő energiatartományt támogat, stabil sugárzási teljesítményt és nagyfokú folyamatismétlést biztosít. Alkalmas szilíciumalapú félvezetőgyártáshoz és a korszerű ostyakötéssel kapcsolatos eljárásokhoz, beleértve a Smart Cut technológia integrálását is.


Jellemzők

Távolsági stabilitási teljesítmény

A rendszer stabil ionnyaláb-kibocsátást biztosít ellenőrzött ingadozással, így a folyamatos gyártás során egyenletes implantációs minőséget biztosít.

Széles körű folyamat-kompatibilitás

Kompatibilis a szilícium-alapú folyamatokkal és a Smart Cut kapcsolódó alkalmazásokkal, támogatja a fejlett ostyatechnikai követelményeket.

Nagy pontosságú implantátum-ellenőrzés

Pontos beültetési teljesítményt biztosít:

  • Szögpontosság ≤ 0,2°
  • A gerenda párhuzamossága ≤ 0,3°
  • Egyenletesség ≤ 1%
  • Ismételhetőség ≤ 1%

Nagy áteresztőképesség

Óránként ≥ 220 ostyát támogat, alkalmas közepes és nagy volumenű félvezetőgyártási környezetekhez.

Batch Target feldolgozási képesség

Támogatja a szakaszos célfeldolgozást, javítja a folyamat rugalmasságát és lehetővé teszi a fejlett szilíciumszelet-gyártási technológiákba való integrációt.


Főbb specifikációk

Folyamat paraméterek

Tétel Specifikáció
Wafer méret 6-8 hüvelykes szilícium ostyák
Energia tartomány 5-180 keV
Beültetett elemek B+, BF2+, P+, As+, As+, N+, H+
Dózistartomány 5E11-1E17 ion/cm²

Sugár teljesítmény

Tétel Specifikáció
Gerendastabilitás ≤ 10% óránként
Gerendapárhuzamosság ≤ 0.3°

Beültetés pontossága

Tétel Specifikáció
Implantátum szögtartomány -11° és 11° között
Szögpontosság ≤ 0.2°
Egyenletesség (1σ) ≤ 1% (B+, 2E14, 150 keV)
Ismételhetőség (1σ) ≤ 1% (B+, 2E14, 150 keV)

Rendszer teljesítménye

Tétel Specifikáció
Átviteli teljesítmény ≥ 220 ostya óránként
Berendezés mérete 5930 × 3000 × 2630 mm

Alkalmazás

Szilícium-alapú félvezetőgyártás

CMOS és fejlett logikai eszközök gyártásában használatos, pontos adalékanyag-implantációs folyamatok támogatására.

Intelligens vágási folyamat integrációja

Alkalmas a Smart Cut technológia követelményein alapuló ostyakötési és rétegátviteli eljárásokhoz.

Fejlett Wafer Engineering

Szilíciumszelet módosítására, szerkezeti optimalizálásra és az eszközök teljesítményének növelésére alkalmazzák.

Integrált áramkörök gyártása

Stabil folyamatirányítással és nagy áteresztőképességgel támogatja a közepes és nagy volumenű IC-gyártást.


Gyakran ismételt kérdések

1. Milyen ostyaméreteket támogat az Ai200HC.D

A rendszer támogatja a 6 és 8 hüvelykes szilíciumszeleteket, és alkalmas a szokásos félvezetőgyártási folyamatokhoz.

2. Mekkora ennek a rendszernek az energiatartománya

Az energiatartomány 5 keV-tól 180 keV-ig terjed, ami a szilíciumalapú félvezető eszközökben történő implantációs alkalmazások széles körét támogatja.

3. Milyen különleges folyamatokat támogat ez a rendszer

A rendszer kompatibilis a szilícium-alapú folyamatokkal és a Smart Cut technológiával, támogatja a tételes célfeldolgozást és a fejlett ostyatechnikai alkalmazásokat.

Értékelések

Még nincsenek értékelések.

„Ai200HC.D High Beam Ion Implantation System for 6/8 Inch Silicon Wafer Processing and Smart Cut Applications” értékelése elsőként

Az e-mail címet nem tesszük közzé. A kötelező mezőket * karakterrel jelöltük