Ai200HC.D ionenimplantatiesysteem met hoge bundel voor 6/8 inch siliciumwaferverwerking en Smart Cut-toepassingen

Het Ai200HC.D (High Beam) ionenimplantatiesysteem is ontworpen voor productielijnen voor halfgeleiders van 6 inch en 8 inch siliciumwafers. Het is een ionenimplantator met hoge stroomsterkte, ontwikkeld voor precisiedoping en geavanceerde procestoepassingen bij de productie van geïntegreerde schakelingen.

Het Ai200HC.D (High Beam) ionenimplantatiesysteem is ontworpen voor productielijnen voor halfgeleiders van 6 inch en 8 inch siliciumwafers. Het is een ionenimplantator met hoge stroomsterkte, ontwikkeld voor precisiedoping en geavanceerde procestoepassingen bij de productie van geïntegreerde schakelingen.

Het systeem ondersteunt een energiebereik van 5 keV tot 180 keV en levert stabiele bundelprestaties en een hoge procesherhaalbaarheid. Het is geschikt voor halfgeleiderfabricage op basis van silicium en geavanceerde processen die verband houden met wafer bonding, waaronder integratie van Smart Cut-technologie.


Kenmerken

Stabiliteit van grootlicht

Het systeem handhaaft een stabiele uitvoer van de ionenbundel met gecontroleerde fluctuatie, waardoor een consistente kwaliteit van de implantatie wordt gegarandeerd tijdens de continue productie.

Brede procescompatibiliteit

Compatibel met siliciumgebaseerde processen en Smart Cut-gerelateerde toepassingen, met ondersteuning voor geavanceerde wafer-engineering.

Zeer nauwkeurige implantaatcontrole

Biedt nauwkeurige implantatieprestaties met:

  • Hoeknauwkeurigheid ≤ 0,2°
  • Parallelliteit bundel ≤ 0,3°
  • Uniformiteit ≤ 1%
  • Herhaalbaarheid ≤ 1%

Hoge doorvoercapaciteit

Ondersteunt ≥ 220 wafers per uur, geschikt voor middelgrote tot grote productieomgevingen voor halfgeleiders.

Batch Doel Verwerking

Ondersteunt verwerking van batchtargets, wat de procesflexibiliteit verbetert en integratie met geavanceerde productietechnologieën voor siliciumwafers mogelijk maakt.


Belangrijkste specificaties

Procesparameters

Item Specificatie
Wafergrootte 6-8 inch silicium wafers
Energie Bereik 5-180 keV
Geïmplanteerde elementen B+, BF2+, P+, As+, N+, H+
Dosisbereik 5E11-1E17 ionen/cm²

Straalprestaties

Item Specificatie
Stabiliteit van de balk ≤ 10% per uur
Parallelliteit van de straal ≤ 0.3°

Nauwkeurigheid van implantatie

Item Specificatie
Implantaat hoekbereik -11° tot 11°
Hoeknauwkeurigheid ≤ 0.2°
Uniformiteit (1σ) ≤ 1% (B+, 2E14, 150 keV)
Herhaalbaarheid (1σ) ≤ 1% (B+, 2E14, 150 keV)

Systeemprestaties

Item Specificatie
Doorvoer ≥ 220 wafels per uur
Uitrustingsgrootte 5930 × 3000 × 2630 mm

Toepassing

Halfgeleiderfabricage op basis van silicium

Gebruikt bij de productie van CMOS en geavanceerde logische apparaten, ter ondersteuning van nauwkeurige doteringsimplantatieprocessen.

Integratie van Smart Cut-proces

Geschikt voor wafer bonding en laagovergangsprocessen gebaseerd op de vereisten van Smart Cut technologie.

Geavanceerde wafer-engineering

Toegepast bij wijziging van siliciumwafers, structurele optimalisatie en verbetering van apparaatprestaties.

Productie geïntegreerd circuit

Ondersteunt de productie van middelgrote tot grote volumes IC's met stabiele procesbesturing en een hoge verwerkingscapaciteit.


Veelgestelde vragen

1. Welke wafermaten ondersteunt de Ai200HC.D?

Het systeem ondersteunt 6-inch en 8-inch siliciumwafers en is geschikt voor mainstream halfgeleiderproductieprocessen.

2. Wat is het energiebereik van dit systeem?

Het energiebereik is 5 keV tot 180 keV, wat een breed scala aan implantatietoepassingen in halfgeleiderelementen op basis van silicium ondersteunt.

3. Welke speciale procesmogelijkheden ondersteunt dit systeem?

Het systeem is compatibel met siliciumgebaseerde processen en Smart Cut technologie en ondersteunt batch target verwerking en geavanceerde wafer engineering toepassingen.

Beoordelingen

Er zijn nog geen beoordelingen.

Wees de eerste om “Ai200HC.D High Beam Ion Implantation System for 6/8 Inch Silicon Wafer Processing and Smart Cut Applications” te beoordelen

Uw e-mailadres wordt niet gepubliceerd. Vereiste velden zijn gemarkeerd met *