Sistema di impianto ionico ad alta temperatura Ai300 (fascio medio) per la lavorazione di wafer da 12 pollici

Il sistema di impiantazione ionica ad alta temperatura Ai300 (Medium Beam) è progettato per linee di produzione di wafer di silicio da 12 pollici. Si tratta di un implanter ionico a media corrente sviluppato per processi di drogaggio avanzati in applicazioni di semiconduttori a base di silicio e a largo bandgap, comprese le linee di processo SiC.

Sistema di impianto ionico ad alta temperatura Ai300 (fascio medio) per la lavorazione di wafer da 12 polliciIl sistema di impiantazione ionica ad alta temperatura Ai300 (Medium Beam) è progettato per linee di produzione di wafer di silicio da 12 pollici. Si tratta di un implanter ionico a media corrente sviluppato per processi di drogaggio avanzati in applicazioni di semiconduttori a base di silicio e a largo bandgap, comprese le linee di processo SiC.

Il sistema supporta una gamma di energie da 5 keV a 300 keV, consentendo un impianto flessibile dalla formazione di giunzioni poco profonde alle applicazioni di drogaggio profondo. È dotato di uno stadio per wafer riscaldato ad alta temperatura con una temperatura massima di 400°C, che consente una migliore attivazione del drogante e una riduzione del danno reticolare durante l'impianto.

Grazie alle prestazioni stabili del fascio, al controllo di alta precisione e alla compatibilità con i processi di circuiti integrati su larga scala, il sistema Ai300 è adatto agli ambienti avanzati di produzione dei semiconduttori.


Caratteristiche

Capacità di impianto ad alta temperatura

Dotato di uno stadio wafer riscaldato che supporta temperature fino a 400°C, migliorando la qualità dell'impianto e l'efficienza di attivazione del drogante.

Ampia gamma di energia

L'intervallo di energia di 5-300 keV supporta processi di impiantazione sia superficiali che profondi per strutture di dispositivi avanzati.

Controllo del fascio ad alta precisione

Fornisce un impianto di alta precisione con accuratezza angolare ≤ 0,1°, parallelismo del fascio ≤ 0,1°, uniformità ≤ 0,5% e ripetibilità ≤ 0,5%.

Prestazioni ad alto rendimento

Supporta una produttività fino a ≥ 500 wafer all'ora, adatta alla produzione di semiconduttori in grandi volumi.

Capacità di sorgente ionica avanzata

Supporta più elementi impiantati, tra cui C, B, P, N, He e Ar, soddisfacendo i diversi requisiti di processo dei semiconduttori.

Compatibilità del processo LSI

Completamente compatibile con i processi di produzione di circuiti integrati su larga scala e con la fabbricazione di dispositivi avanzati.


Specifiche principali

Parametri di processo

Articolo Specifiche
Dimensione del wafer 12 pollici
Gamma energetica 5-300 keV
Elementi impiantati C, B, P, N, He, Ar
Intervallo di dose 1E11-1E16 ioni/cm²

Prestazioni del fascio

Articolo Specifiche
Stabilità della trave ≤ 10% / ora (≤1 interruzione del fascio o arco elettrico all'ora)
Parallelismo del fascio ≤ 0.1°

Accuratezza dell'impianto

Articolo Specifiche
Gamma dell'angolo dell'impianto 0°-45°
Precisione dell'angolo ≤ 0.1°
Uniformità (1σ) ≤ 0,5% (P+, 1E14, 100 keV)
Ripetibilità (1σ) ≤ 0,5%

Prestazioni del sistema

Articolo Specifiche
Produttività ≥ 500 wafer all'ora
Temperatura massima dell'impianto 400°C
Dimensioni dell'apparecchiatura 6400 × 3640 × 3100 mm
Livello di vuoto 5E-7 Torr
Perdita di raggi X ≤ 0,3 μSv/h
Modalità di scansione Scansione elettrostatica orizzontale + scansione meccanica verticale

Campi di applicazione

Lavorazione dei semiconduttori SiC

Utilizzato nella fabbricazione di dispositivi in carburo di silicio, a supporto dei processi di impiantazione ad alta temperatura richiesti per i materiali ad ampio bandgap.

Produzione di semiconduttori a base di silicio

Applicabile alle linee di produzione di wafer di silicio da 12 pollici per la fabbricazione di circuiti integrati CMOS e avanzati.

Processi di impianto ad alta temperatura

Supporta i processi di impiantazione che richiedono una temperatura elevata del wafer per ridurre i difetti e migliorare l'attivazione del drogante.

Fabbricazione di dispositivi di potenza

Adatto per i dispositivi a semiconduttore di potenza che richiedono un drogaggio preciso e un impianto ad alta energia.

Produzione avanzata di circuiti integrati

Supporta l'integrazione di processi LSI con requisiti di alta precisione e alta produttività.


Domande frequenti

1. Quali dimensioni di wafer supporta il sistema Ai300?

Il sistema è progettato per wafer di silicio da 12 pollici ed è adatto a linee di produzione di semiconduttori avanzate.

2. Qual è il vantaggio principale della capacità di impianto ad alta temperatura?

Il sistema supporta l'impiantazione fino a 400°C, il che contribuisce a ridurre i danni al reticolo, a migliorare l'attivazione del drogante e a migliorare le prestazioni complessive del dispositivo.

3. Quale livello di precisione e di efficienza produttiva offre il sistema?

Il sistema offre una precisione angolare di 0,1 gradi, un parallelismo del fascio di 0,1 gradi e un'uniformità e ripetibilità dello 0,5%, con una produttività fino a 500 wafer all'ora.

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