Système d'implantation d'ions à haute température Ai300 (faisceau moyen) pour le traitement de plaquettes de 12 pouces

Le système d'implantation ionique à haute température Ai300 (Medium Beam) est conçu pour les lignes de fabrication de semi-conducteurs à partir de plaquettes de silicium de 12 pouces. Il s'agit d'un implanteur ionique à courant moyen développé pour les processus de dopage avancés dans les applications de semi-conducteurs à base de silicium et à large bande interdite, y compris les lignes de traitement SiC.

Système d'implantation d'ions à haute température Ai300 (faisceau moyen) pour le traitement de plaquettes de 12 poucesLe système d'implantation ionique à haute température Ai300 (Medium Beam) est conçu pour les lignes de fabrication de semi-conducteurs à partir de plaquettes de silicium de 12 pouces. Il s'agit d'un implanteur ionique à courant moyen développé pour les processus de dopage avancés dans les applications de semi-conducteurs à base de silicium et à large bande interdite, y compris les lignes de traitement SiC.

Le système prend en charge une gamme d'énergie allant de 5 keV à 300 keV, ce qui permet une implantation flexible allant de la formation de jonctions peu profondes à des applications de dopage profond. Il est équipé d'une platine pour plaquettes chauffée à haute température, avec une température maximale de 400°C, ce qui permet d'améliorer l'activation du dopant et de réduire les dommages au réseau pendant l'implantation.

Avec une performance stable du faisceau, un contrôle de haute précision et une compatibilité avec les processus de circuits intégrés à grande échelle, le système Ai300 est adapté aux environnements de fabrication de semi-conducteurs avancés.


Caractéristiques

Capacité d'implantation à haute température

Équipé d'un plateau chauffant pour les plaquettes de silicium, supportant des températures allant jusqu'à 400°C, améliorant la qualité de l'implantation et l'efficacité de l'activation du dopant.

Large gamme d'énergie

La gamme d'énergie de 5 à 300 keV permet des processus d'implantation à la fois superficiels et profonds pour les structures de dispositifs avancés.

Contrôle de faisceau de haute précision

Permet une implantation de haute précision avec une précision angulaire ≤ 0,1°, un parallélisme de faisceau ≤ 0,1°, une uniformité ≤ 0,5% et une répétabilité ≤ 0,5%.

Performance à haut débit

Le débit peut atteindre ≥ 500 plaquettes par heure, ce qui convient à la fabrication de semi-conducteurs en grande quantité.

Capacité de source d'ions avancée

Prend en charge de multiples éléments implantés, notamment C, B, P, N, He et Ar, répondant ainsi à diverses exigences en matière de processus de semi-conducteurs.

Compatibilité des processus LSI

Entièrement compatible avec les processus de fabrication de circuits intégrés à grande échelle et la fabrication de dispositifs avancés.


Principales spécifications

Paramètres du processus

Objet Spécifications
Taille de la plaquette 12 pouces
Gamme d'énergie 5-300 keV
Éléments implantés C, B, P, N, He, Ar
Gamme de doses 1E11-1E16 ions/cm²

Performance des faisceaux

Objet Spécifications
Stabilité de la poutre ≤ 10% / heure (≤1 interruption de faisceau ou arc par heure)
Parallélisme des poutres ≤ 0.1°

Précision de l'implantation

Objet Spécifications
Gamme d'angles de l'implant 0°-45°
Précision de l'angle ≤ 0.1°
Uniformité (1σ) ≤ 0,5% (P+, 1E14, 100 keV)
Répétabilité (1σ) ≤ 0,5%

Performance du système

Objet Spécifications
Débit ≥ 500 gaufres par heure
Température maximale de l'implant 400°C
Taille de l'équipement 6400 × 3640 × 3100 mm
Niveau de vide 5E-7 Torr
Fuite de rayons X ≤ 0,3 μSv/h
Mode de numérisation Balayage électrostatique horizontal + balayage mécanique vertical

Champs d'application

Traitement des semi-conducteurs SiC

Utilisé dans la fabrication de dispositifs en carbure de silicium, pour soutenir les processus d'implantation à haute température nécessaires pour les matériaux à large bande interdite.

Fabrication de semi-conducteurs à base de silicium

Applicable aux lignes de production de plaquettes de silicium de 12 pouces pour la fabrication de circuits intégrés CMOS et avancés.

Procédés d'implantation à haute température

Il prend en charge les processus d'implantation nécessitant une température élevée de la plaquette afin de réduire les défauts et d'améliorer l'activation du dopant.

Fabrication de dispositifs de puissance

Convient aux dispositifs semi-conducteurs de puissance nécessitant un dopage précis et une implantation à haute énergie.

Production de circuits intégrés avancés

Permet l'intégration des processus LSI avec des exigences de haute précision et de haut débit.


Questions fréquemment posées

1. Quelle taille de plaquette le système Ai300 prend-il en charge ?

Le système est conçu pour les plaquettes de silicium de 12 pouces et convient aux lignes de fabrication de semi-conducteurs de pointe.

2. Quel est le principal avantage de la capacité d'implantation à haute température ?

Le système permet une implantation jusqu'à 400°C, ce qui permet de réduire les dommages au réseau, d'améliorer l'activation des dopants et d'accroître les performances globales du dispositif.

3. Quel est le niveau de précision et d'efficacité de la production offert par le système ?

Le système offre une précision angulaire de 0,1 degré, un parallélisme de faisceau de 0,1 degré, une uniformité et une répétabilité de 0,5 %, avec un débit pouvant atteindre 500 plaquettes par heure.

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