Il wafer di carburo di silicio 6H-N da 2 pollici è un substrato a cristallo singolo progettato per applicazioni a livello di ricerca e di dispositivi. Il politipo 6H presenta una struttura cristallina esagonale che garantisce una conducibilità elettrica stabile e buone prestazioni termiche in condizioni difficili.
Con un bandgap di circa 3,02 eV, il 6H-SiC consente di operare in ambienti in cui i materiali tradizionali di silicio falliscono, in particolare in condizioni di alta tensione, alta temperatura e alta frequenza. Questo lo rende adatto alla prototipazione di dispositivi in fase iniziale, ai test sui materiali e alla fabbricazione di componenti elettronici specializzati.
I wafer SiC ZMSH sono prodotti utilizzando tecniche di crescita controllata dei cristalli per garantire una resistività costante, una bassa densità di difetti e un'elevata qualità superficiale. Questi parametri sono fondamentali per garantire risultati sperimentali riproducibili e prestazioni stabili dei dispositivi.
Caratteristiche principali
Struttura conduttiva di tipo N
Il wafer è drogato di tipo N, fornendo percorsi stabili di conduzione degli elettroni adatti alla fabbricazione di dispositivi a semiconduttore e agli esperimenti di caratterizzazione elettrica.
Materiale semiconduttore ad ampio bandgap
Con un bandgap di ~3,02 eV, il SiC supporta un'intensità di campo elettrico significativamente superiore rispetto al silicio, consentendo un funzionamento ad alta tensione e una migliore efficienza del dispositivo.
Alta conducibilità termica
Il SiC presenta un'eccellente conduttività termica, che consente un'efficiente dissipazione del calore dalle regioni attive del dispositivo. Ciò migliora l'affidabilità del dispositivo e ne prolunga la vita operativa nelle applicazioni ad alta potenza.
Alta resistenza meccanica
Con una durezza Mohs di circa 9,2, i wafer di SiC offrono una forte resistenza ai danni meccanici, all'usura superficiale e alle sollecitazioni di lavorazione durante la fabbricazione.
Elevato campo elettrico di ripartizione
L'elevata intensità del campo di rottura consente di realizzare strutture compatte dei dispositivi mantenendo un'elevata tolleranza alla tensione, rendendo il SiC ideale per l'elettronica di potenza avanzata.
Specifiche tecniche
| Parametro | Specifiche |
|---|---|
| Materiale | Carburo di silicio a cristallo singolo |
| Marchio | ZMSH |
| Politipo | 6H-N |
| Diametro | 2 pollici (50,8 mm) |
| Spessore | 350 μm / 650 μm |
| Tipo di conducibilità | Tipo N |
| Finitura superficiale | CMP faccia a vista lucidata |
| Trattamento del viso C | Lucidato meccanicamente |
| Ruvidità della superficie | Ra < 0,2 nm (faccia Si) |
| Resistività | 0,015 - 0,028 Ω-cm |
| Colore | Trasparente / Verde chiaro |
| Imballaggio | Contenitore a singolo wafer |
Proprietà del materiale 6H-SiC
| Proprietà | Valore |
|---|---|
| Parametri del reticolo | a = 3,073 Å, c = 15,117 Å |
| Durezza Mohs | ≈ 9.2 |
| Densità | 3,21 g/cm³ |
| Coefficiente di espansione termica | 4-5 ×10-⁶ /K |
| Indice di rifrazione (750 nm) | n₀ = 2,60, nₑ = 2,65 |
| Costante dielettrica | ≈ 9.66 |
| Conduttività termica | ~3,7-3,9 W/cm-K |
| Bandgap | 3,02 eV |
| Campo elettrico di ripartizione | 3-5 ×10⁶ V/cm |
| Velocità della deriva di saturazione | 2,0 ×10⁵ m/s |
Queste proprietà fisiche intrinseche rendono il 6H-SiC adatto ad applicazioni che richiedono prestazioni stabili in condizioni elettriche e termiche estreme.
Processo di produzione
I wafer in cristallo singolo di SiC sono prodotti tipicamente con la tecnica del Metodo del trasporto fisico del vapore (PVT), un processo industriale maturo per la crescita di cristalli di semiconduttori ad ampio bandgap.
In questo processo, il materiale di partenza SiC di elevata purezza viene sublimato a temperature superiori ai 2000°C. Le specie di vapore vengono trasportate attraverso un gradiente termico attentamente controllato e ricristallizzate su un cristallo seme, formando un lingotto a cristallo singolo (boule). Dopo la crescita, il lingotto viene trasformato in wafer attraverso fasi di taglio, lappatura, lucidatura e pulizia.
Per le applicazioni dei dispositivi, i wafer possono essere sottoposti a ulteriori Crescita epitassiale per deposizione di vapore chimico (CVD), che consente un controllo preciso della concentrazione di drogaggio e dello spessore dello strato. Questa fase è essenziale per la fabbricazione di MOSFET e diodi.
Applicazioni
Elettronica di potenza
I wafer SiC 6H-N da 2 pollici sono utilizzati per lo sviluppo e la prototipazione di dispositivi a semiconduttore di potenza, tra cui diodi, strutture MOSFET e moduli di potenza. Questi dispositivi sono essenziali per i sistemi di conversione dell'energia e per i circuiti di gestione dell'energia.
Elettronica per alte temperature
I materiali SiC mantengono stabili le prestazioni elettriche a temperature elevate, rendendoli adatti all'elettronica aerospaziale, ai sistemi di monitoraggio industriale e alle applicazioni per le infrastrutture energetiche.
Ricerca e sviluppo dei semiconduttori
Grazie alla loro disponibilità ed economicità, i wafer da 2 pollici sono ampiamente utilizzati nei laboratori universitari, negli istituti di ricerca e negli ambienti di produzione pilota per lo studio dei materiali e la sperimentazione dei dispositivi.
Applicazioni optoelettroniche e speciali
Il SiC presenta anche una trasparenza ottica in alcuni intervalli di lunghezza d'onda, che ne consente l'uso in applicazioni di ricerca fotonica e optoelettronica specializzate.
Vantaggi
La piattaforma di wafer SiC da 2 pollici offre diversi vantaggi per la ricerca e lo sviluppo:
- Costo inferiore rispetto a wafer di dimensioni maggiori
- Manipolazione più semplice per gli esperimenti su scala di laboratorio
- Adatto alla prototipazione rapida e ai test di processo
- Qualità stabile dei cristalli per risultati riproducibili
- Opzioni di personalizzazione flessibili per le esigenze di ricerca
FAQ
D1: Qual è la differenza tra 6H-SiC e 4H-SiC?
Il 6H-SiC e il 4H-SiC sono politipi cristallini diversi. Il 4H-SiC offre generalmente una maggiore mobilità degli elettroni ed è ampiamente utilizzato nei dispositivi di potenza commerciali, mentre il 6H-SiC offre un comportamento elettrico stabile ed è comunemente utilizzato nella ricerca e in applicazioni elettroniche specifiche.
D2: Quale trattamento superficiale viene applicato al wafer?
La faccia in Si è lucidata mediante lucidatura meccanica chimica (CMP) per ottenere una qualità superficiale ultra-liscia (Ra < 0,2 nm). La faccia C è lucidata meccanicamente per supportare diversi requisiti di lavorazione.
Q3: Le specifiche dei wafer possono essere personalizzate?
Sì. ZMSH offre opzioni di personalizzazione che includono lo spessore, la concentrazione di drogaggio, l'intervallo di resistività e la preparazione della superficie in base alle esigenze del cliente.




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