HP-1221 Fully Automatic Wafer Dicing Machine är en högeffektiv, precisionskonstruerad lösning som är utformad för singuleringsprocesser för halvledarwafers. Systemet stöder wafers upp till 300 mm (12 tum) och integrerar avancerad automatisering, skärteknik med dubbla spindlar och intelligenta uppriktningssystem för att ge överlägsen skärnoggrannhet, genomströmning och konsekvens.
HP-1221 är konstruerad för moderna tillverkningsmiljöer för halvledare och möjliggör ett helautomatiskt arbetsflöde - från laddning och inriktning av wafers till precisionsskärning, följt av integrerad rengöring och torkning. Detta minskar avsevärt manuella ingrepp, förbättrar utbytet och säkerställer en repeterbar processtabilitet.
Med sitt kompakta fotavtryck och robusta konstruktion är HP-1221 lämplig för både produktionslinjer med höga volymer och specialiserade applikationer som kräver hög precision och tillförlitlighet.
Viktiga funktioner
1. Motstående struktur med dubbla spindlar för hög effektivitet
Maskinen har en avancerad konfiguration med två motstående spindlar. Genom att minska avståndet mellan de två spindlarna minimerar systemet tomgångsrörelser och förbättrar skärningseffektiviteten avsevärt. Den här konstruktionen möjliggör kontinuerlig drift och minskar cykeltiden, vilket gör den idealisk för produktionsmiljöer med hög genomströmning.
2. Helt automatiserad integrerad process
HP-1221 stöder en komplett automatiserad process, inklusive:
- Automatisk lastning och lossning av wafers
- Uppriktning med hög precision
- Kontrollerad tärningsoperation
- Integrerad rengöring och torkning
Denna automatiseringsnivå ökar inte bara produktiviteten utan minskar också operatörsberoendet och de fel som orsakas av människor.
3. Högprecisionssystem för uppriktning och inspektion
Systemet är utrustat med en konfiguration med dubbla mikroskop (hög och låg förstoring) och säkerställer:
- Snabb och exakt waferuppriktning
- Verifiering av skärbanan i realtid
- Inspektion av kerf med hög upplösning
Denna egenskap är avgörande för att bibehålla snäva toleranser och säkerställa en jämn skärkvalitet, särskilt för avancerade halvledarkomponenter.
4. Sub-C/T Funktion för assisterad bladavdressning
Den integrerade Sub-C/T-bladdressningsfunktionen hjälper till att bibehålla optimal bladskärpa under drift. Detta resulterar i:
- Förbättrad kvalitet på skärytan
- Minskad avflagning och mikrosprickor
- Förlängd livslängd för bladet
I slutändan bidrar detta till lägre driftskostnader och högre produktutbyte.
5. Valfritt rengöringsmunstycke för två vätskor
Som tillval kan ett luft-vatten-munstycke med dubbla vätskor installeras vid skärområdet för att förbättra rengöringsprestandan efter skärningen. Detta säkerställer effektiv borttagning av skräp och partiklar, vilket förbättrar waferrenheten och minskar kontamineringsriskerna i nedströmsprocesser.
Tekniska specifikationer
| Parameter | Specifikation |
|---|---|
| Spindeleffekt/varvtal | 1,8 kW / 2,2 kW (tillval), 6000-60000 rpm |
| Flänsstorlek | 2 tum |
| Maximal storlek på arbetsstycket | Rund: Ø300 mm / Fyrkantig: 254 mm × 254 mm |
| Konfiguration av mikroskop | Hög förstoring: 7,5× / Låg förstoring: 0,75× (tillval) |
| Maskinens mått (B × D × H) | 1285 mm × 1590 mm × 1860 mm |
Tillämpningar
HP-1221 är utformad för att uppfylla de krävande kraven i olika halvledar- och avancerade materialapplikationer, inklusive
- Tärning av kiselskivor för integrerade kretsar (IC)
- Bearbetning av wafer för kraftelektronik (t.ex. SiC, GaN)
- Tillverkning av MEMS-enheter
- Skärning av LED och optoelektroniska wafers
- Avancerade förpacknings- och wafernivåprocesser
Dess kompatibilitet med wafers upp till 12 tum gör den lämplig för både mogna och avancerade tillverkningsnoder.

Fördelar med prestanda
Förbättrad avkastning och tillförlitlighet
Precisionsuppriktning och stabil spindelprestanda säkerställer minimal kantsprickning och högkvalitativa snittytor, vilket direkt bidrar till förbättrat utbyte av enheten.
Hög genomströmning
Den dubbelspindliga konstruktionen och den reducerade cykeltiden möjliggör snabbare bearbetning utan att kompromissa med noggrannheten, vilket gör systemet idealiskt för storskalig produktion.
Processtabilitet
Integrerad automation och intelligenta styrsystem säkerställer konsekvent prestanda under långa produktionscykler, vilket minskar variabiliteten och förbättrar repeterbarheten.
Kostnadseffektivitet
Funktioner som bladdressning och effektiv rengöring minskar förbrukningen av förbrukningsvaror och underhållsfrekvensen, vilket sänker de totala driftskostnaderna.
Varför välja HP-1221
HP-1221 utmärker sig som en pålitlig och skalbar wafer-dicing-lösning för tillverkare som söker:
- Hög precision vid singulering av wafers
- Automatiserade, operatörsoberoende processer
- Kompatibilitet med avancerade material
- Långsiktig kostnadseffektivitet och stabil prestanda
Kombinationen av avancerad teknik, automation och användarorienterad design gör den till ett värdefullt tillskott till alla tillverkningslinjer för halvledare.
VANLIGA FRÅGOR
1. Vilka typer av wafers kan HP-1221 bearbeta?
HP-1221 är utformad för att hantera ett brett spektrum av wafer-material som används vid tillverkning av halvledare och avancerad elektronik. Dessa inkluderar kisel (Si), kiselkarbid (SiC), galliumnitrid (GaN) och andra sammansatta halvledarmaterial.
Med sin höga spindelhastighet (upp till 60.000 varv/min) och stabila skärprestanda kan systemet bearbeta både standardmaterial och hårda, spröda material med bibehållen utmärkt kantkvalitet och minimal flisning.
2. Hur förbättrar dubbelspindelsystemet produktionseffektiviteten?
Den motsatta dubbelspindelstrukturen minskar avsevärt de icke-produktiva rörelserna under drift. Genom att minimera avståndet mellan skäraxlarna kan systemet utföra snabbare övergångar och kontinuerliga skäroperationer.
Detta resulterar i:
- Kortare cykeltider
- Högre genomströmning
- Förbättrat utnyttjande av utrustning
Jämfört med enspindliga system erbjuder HP-1221 en mer effektiv lösning för högvolymsapplikationer inom wafer-dicing.
3. Hur säkerställer maskinen skärprecision och kvalitet?
HP-1221 har flera funktioner för att garantera precision och konsekvens, bland annat
- Dubbelt mikroskopsystem för exakt uppriktning och inspektion i realtid
- Höghastighetsspindel med låg vibration för stabil kapning
- Sub-C/T-bladdressningsfunktion för att bibehålla bladets skärpa
- Rengöringssystem med dubbla vätskor som tillval för att avlägsna skräp och förhindra kontaminering
Dessa kombinerade teknologier bidrar till att säkerställa snäva toleranser, rena snittlinjer och hög repeterbarhet, vilket är avgörande för att bibehålla utbytet vid halvledartillverkning.


Recensioner
Det finns inga recensioner än.