{"id":2466,"date":"2026-05-14T06:21:48","date_gmt":"2026-05-14T06:21:48","guid":{"rendered":"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/?p=2466"},"modified":"2026-05-14T06:22:03","modified_gmt":"2026-05-14T06:22:03","slug":"wafer-notching-and-coring-processes","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/nl\/wafer-notching-and-coring-processes\/","title":{"rendered":"Inkerven en uitslijpen van wafers bij de productie van 300 mm halfgeleiders"},"content":{"rendered":"<p>Bij 300mm halfgeleiderfabricage zijn waferkerven en -boren kritieke mechanische processen om siliciumwafers voor te bereiden op latere fabricagestappen. Deze processen zorgen voor de juiste ori\u00ebntatie van de wafer, structurele integriteit en compatibiliteit met geautomatiseerde verwerkingssystemen in geavanceerde fabrieken.<\/p>\n\n\n\n<p>Naarmate de wafermaten blijven toenemen en de procesknooppunten geavanceerder worden, is precisie bij het mechanisch vormen van de wafer steeds belangrijker geworden voor opbrengstcontrole en compatibiliteit van apparatuur.<\/p>\n\n\n\n<p>Dit artikel legt uit wat wafer notching en coring zijn, hoe ze worden uitgevoerd en waarom ze essentieel zijn in de moderne halfgeleiderproductie.<\/p>\n\n\n\n<figure class=\"wp-block-image aligncenter size-full\"><img fetchpriority=\"high\" decoding=\"async\" width=\"800\" height=\"533\" src=\"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/05\/NOTCH.jpg\" alt=\"\" class=\"wp-image-2467\" srcset=\"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/05\/NOTCH.jpg 800w, https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/05\/NOTCH-300x200.jpg 300w, https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/05\/NOTCH-768x512.jpg 768w, https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/05\/NOTCH-18x12.jpg 18w, https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/05\/NOTCH-600x400.jpg 600w\" sizes=\"(max-width: 800px) 100vw, 800px\" \/><\/figure>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\">Wat is wafer inkepen?<\/h2>\n\n\n\n<p>Inkepen van een wafer is het proces waarbij een kleine, precies gepositioneerde snede (inkeping) wordt gemaakt op de rand van een silicium wafer. Deze inkeping dient als ori\u00ebntatiereferentie voor geautomatiseerde systemen.<\/p>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">Doel van het uitsnijden van wafers<\/h3>\n\n\n\n<p>De belangrijkste functies van het uitsnijden van wafers zijn:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li><strong>Uitlijning kristalori\u00ebntatie<\/strong> (bijv.  of  siliciumori\u00ebntatie)<\/li>\n\n\n\n<li><strong>Referentie positionering apparatuur<\/strong> voor robot-handlingsystemen<\/li>\n\n\n\n<li><strong>Procesconsistentie in lithografie-, ets- en depositiestappen<\/strong><\/li>\n\n\n\n<li><strong>Automatiseringscompatibiliteit in 300mm fabs<\/strong><\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<p>Bij 300mm wafers is de inkeping een gestandaardiseerd kenmerk waarmee apparatuur de waferori\u00ebntatie kan bepalen zonder handmatige tussenkomst.<\/p>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\">Wat is wafer-correctie?<\/h2>\n\n\n\n<p>Uitboren van een wafer verwijst naar het verwijderen of vormgeven van het centrale gedeelte of randsecties van een wafer voor gespecialiseerde toepassingen of procesvereisten. Hoewel dit minder vaak besproken wordt dan uitslijpen, speelt coring een rol in specifieke geavanceerde productie- en onderzoekstoepassingen.<\/p>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">Belangrijkste functies van Wafer Coring<\/h3>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Cre\u00ebren van centrale uitlijning of mechanische reli\u00ebfstructuren<\/li>\n\n\n\n<li>Wafers voorbereiden voor gespecialiseerde hecht- of stapelprocessen<\/li>\n\n\n\n<li>Verwijderen van gestresste of defecte centrale gebieden in experimentele processen<\/li>\n\n\n\n<li>Ondersteuning van aangepaste wafergeometrie\u00ebn voor onderzoek en prototyping<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<p>In geavanceerde halfgeleideromgevingen wordt het uitboren meestal uitgevoerd met uiterst nauwkeurig diamantgereedschap of lasergestuurde systemen.<\/p>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\">Apparatuur voor uitsnijden en uitboren<\/h2>\n\n\n\n<p>Voor het zeer nauwkeurig vormgeven van wafers is gespecialiseerde apparatuur nodig die ontworpen is voor nauwkeurigheid op microniveau en minimale schade.<\/p>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">1. Precisie-uitklinksystemen voor wafers<\/h3>\n\n\n\n<p>Deze systemen gebruiken diamantslijpschijven of lasersnijkoppen om nauwkeurige inkepingen te maken op de randen van wafers.<\/p>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">2. Diamant draadzagen<\/h3>\n\n\n\n<p>Gebruikt in sommige steek- en vormtoepassingen, vooral bij harde materialen of dikke wafers.<\/p>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">3. Micromachinesystemen met laser<\/h3>\n\n\n\n<p>Geavanceerde fabrieken kunnen lasergebaseerde gereedschappen gebruiken voor contactloos uitsnijden en uitboren om mechanische spanning te verminderen.<\/p>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">4. CNC-precisieslijpmachines<\/h3>\n\n\n\n<p>Hoge herhaalbaarheid en strakke dimensionale controle voor het bewerken van waferranden.<\/p>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\">Processtroom in 300mm waferproductie<\/h2>\n\n\n\n<p>Een vereenvoudigde processtroom voor het uitsnijden en uitboren van wafers omvat:<\/p>\n\n\n\n<ol class=\"wp-block-list\">\n<li><strong>Wafer inspectie<\/strong>\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Detectie van oppervlaktedefecten<\/li>\n\n\n\n<li>Dikte en vlakheid meten<\/li>\n<\/ul>\n<\/li>\n\n\n\n<li><strong>Ori\u00ebntatie Uitlijning<\/strong>\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>De richting van de kristalas bepalen<\/li>\n\n\n\n<li>Referentiepositie inkeping instellen<\/li>\n<\/ul>\n<\/li>\n\n\n\n<li><strong>Mechanische of laserverwerking<\/strong>\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Inkeping snijden op waferrand<\/li>\n\n\n\n<li>Uitboren of centraal vormen (indien nodig)<\/li>\n<\/ul>\n<\/li>\n\n\n\n<li><strong>Ontbramen en oppervlakteafwerking<\/strong>\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Verwijderen van microscheurtjes en puin<\/li>\n\n\n\n<li>Polijsten van randen voor spanningsvermindering<\/li>\n<\/ul>\n<\/li>\n\n\n\n<li><strong>Inspectie na het proces<\/strong>\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Optische metrologie<\/li>\n\n\n\n<li>Verificatie van afmetingen<\/li>\n\n\n\n<li>Controle van de integriteit van het oppervlak<\/li>\n<\/ul>\n<\/li>\n<\/ol>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\">Belang in 300mm Halfgeleiderfabricage<\/h2>\n\n\n\n<p>Naarmate de waferdiameter toeneemt tot 300 mm en meer, wordt mechanische precisie kritischer:<\/p>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">1. Automatiseringseisen<\/h3>\n\n\n\n<p>Moderne fabrieken vertrouwen in hoge mate op het hanteren van wafers met robots. Zelfs een kleine verkeerde uitlijning kan de oorzaak zijn:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Wafer breuk<\/li>\n\n\n\n<li>Verkeerde plaatsing in lithografie-instrumenten<\/li>\n\n\n\n<li>Rendementsverlies in downstreamprocessen<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">2. Stressgevoeligheid<\/h3>\n\n\n\n<p>Grote wafers zijn gevoeliger voor mechanische spanning tijdens randbewerking. Slecht inkepen of uitboren kan leiden tot:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Microscheurtjes<\/li>\n\n\n\n<li>Randafbrokkeling<\/li>\n\n\n\n<li>Delaminatie tijdens thermische cycli<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">3. Integratie van processen<\/h3>\n\n\n\n<p>Inkepingen moeten precies worden uitgelijnd met:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Lithografie-uitlijnsystemen<\/li>\n\n\n\n<li>Ori\u00ebntatie van het etsgereedschap<\/li>\n\n\n\n<li>Referentiekaders voor metrologie<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\">Veelvoorkomende uitdagingen bij het uitsnijden en uitslijpen van wafers<\/h2>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">1. Kantafwerking<\/h3>\n\n\n\n<p>Verkeerde snijparameters kunnen microbreuken veroorzaken aan de rand van de wafer, wat de mechanische sterkte be\u00efnvloedt.<\/p>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">2. Schade aan de ondergrond<\/h3>\n\n\n\n<p>Overmatige mechanische kracht kan verborgen defecten introduceren die zich voortplanten tijdens thermische verwerking.<\/p>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">3. Uitlijningsfouten<\/h3>\n\n\n\n<p>Zelfs kleine afwijkingen in de positie van de inkepingen kunnen van invloed zijn op volledige fabrieksautomatiseringssystemen.<\/p>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">4. Slijtage gereedschap<\/h3>\n\n\n\n<p>Diamantgereedschap degradeert na verloop van tijd, waardoor de consistentie afneemt en een strikte onderhoudscontrole nodig is.<\/p>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\">Kwaliteitscontrole en inspectiemethoden<\/h2>\n\n\n\n<p>Om de betrouwbaarheid van de halfgeleiderproductie te garanderen, worden de processen voor het uitsnijden en uitboren van wafers streng gecontroleerd:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Inspectie met optische microscopie<\/li>\n\n\n\n<li>Laser scanning metrologie<\/li>\n\n\n\n<li>Systemen voor het meten van randprofielen<\/li>\n\n\n\n<li>Oppervlakteruwheidsanalyse (AFM\/SEM in geavanceerde gevallen)<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<p>Deze methoden zorgen ervoor dat wordt voldaan aan de normen voor halfgeleiders.<\/p>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\">Toepassingen voor de industrie<\/h2>\n\n\n\n<p>Wafer notching en coring worden veel gebruikt in:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>300mm silicium wafer productie<\/li>\n\n\n\n<li>Geavanceerde logica- en geheugenfabrieken<\/li>\n\n\n\n<li>Onderzoek en ontwikkeling wafer prototyping<\/li>\n\n\n\n<li>Speciale halfgeleidermaterialen (SiC, saffier, glaswafers)<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\">Conclusie<\/h2>\n\n\n\n<p>Waferkerven en -boren zijn essenti\u00eble precisieprocessen in<mark style=\"background-color:rgba(0, 0, 0, 0);color:#0693e3\" class=\"has-inline-color\"> 300mm halfgeleiderfabricage<\/mark>. Hoewel ze minder belangrijk lijken dan lithografie of depositie, hebben deze mechanische stappen een directe invloed op de nauwkeurigheid bij het hanteren van de wafer, de processtabiliteit en de totale opbrengst.<\/p>\n\n\n\n<p>Naarmate de halfgeleidertechnologie zich blijft ontwikkelen, zal de vraag naar ultraprecieze randverwerking blijven toenemen, waardoor deze processen steeds belangrijker worden in fabrieken van de volgende generatie.<\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>In 300mm semiconductor manufacturing, wafer notching and coring are critical mechanical processes used to prepare silicon wafers for downstream fabrication steps. These processes ensure proper wafer orientation, structural integrity, and compatibility with automated handling systems in advanced fabs. As wafer sizes continue to increase and process nodes become more advanced, precision in mechanical wafer shaping [&hellip;]<\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":2467,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"site-sidebar-layout":"default","site-content-layout":"","ast-site-content-layout":"default","site-content-style":"default","site-sidebar-style":"default","ast-global-header-display":"","ast-banner-title-visibility":"","ast-main-header-display":"","ast-hfb-above-header-display":"","ast-hfb-below-header-display":"","ast-hfb-mobile-header-display":"","site-post-title":"","ast-breadcrumbs-content":"","ast-featured-img":"","footer-sml-layout":"","ast-disable-related-posts":"","theme-transparent-header-meta":"","adv-header-id-meta":"","stick-header-meta":"","header-above-stick-meta":"","header-main-stick-meta":"","header-below-stick-meta":"","astra-migrate-meta-layouts":"set","ast-page-background-enabled":"default","ast-page-background-meta":{"desktop":{"background-color":"var(--ast-global-color-4)","background-image":"","background-repeat":"repeat","background-position":"center center","background-size":"auto","background-attachment":"scroll","background-type":"","background-media":"","overlay-type":"","overlay-color":"","overlay-opacity":"","overlay-gradient":""},"tablet":{"background-color":"","background-image":"","background-repeat":"repeat","background-position":"center center","background-size":"auto","background-attachment":"scroll","background-type":"","background-media":"","overlay-type":"","overlay-color":"","overlay-opacity":"","overlay-gradient":""},"mobile":{"background-color":"","background-image":"","background-repeat":"repeat","background-position":"center center","background-size":"auto","background-attachment":"scroll","background-type":"","background-media":"","overlay-type":"","overlay-color":"","overlay-opacity":"","overlay-gradient":""}},"ast-content-background-meta":{"desktop":{"background-color":"var(--ast-global-color-5)","background-image":"","background-repeat":"repeat","background-position":"center center","background-size":"auto","background-attachment":"scroll","background-type":"","background-media":"","overlay-type":"","overlay-color":"","overlay-opacity":"","overlay-gradient":""},"tablet":{"background-color":"var(--ast-global-color-5)","background-image":"","background-repeat":"repeat","background-position":"center center","background-size":"auto","background-attachment":"scroll","background-type":"","background-media":"","overlay-type":"","overlay-color":"","overlay-opacity":"","overlay-gradient":""},"mobile":{"background-color":"var(--ast-global-color-5)","background-image":"","background-repeat":"repeat","background-position":"center center","background-size":"auto","background-attachment":"scroll","background-type":"","background-media":"","overlay-type":"","overlay-color":"","overlay-opacity":"","overlay-gradient":""}},"footnotes":""},"categories":[24],"tags":[1367,1370,185,1327,1369,1365,1366,1337,1368],"class_list":["post-2466","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-industry-news","tag-300mm-wafer-manufacturing","tag-precision-wafer-processing","tag-semiconductor-manufacturing-equipment","tag-semiconductor-wafer-processing","tag-silicon-wafer-alignment","tag-wafer-coring","tag-wafer-edge-notching","tag-wafer-handling-systems","tag-wafer-notching"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/nl\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/2466","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/nl\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/nl\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/nl\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/nl\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=2466"}],"version-history":[{"count":1,"href":"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/nl\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/2466\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":2468,"href":"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/nl\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/2466\/revisions\/2468"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/nl\/wp-json\/wp\/v2\/media\/2467"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/nl\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=2466"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/nl\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=2466"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/nl\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=2466"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}