{"id":2196,"date":"2026-04-14T06:34:45","date_gmt":"2026-04-14T06:34:45","guid":{"rendered":"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/?post_type=product&#038;p=2196"},"modified":"2026-04-14T06:34:48","modified_gmt":"2026-04-14T06:34:48","slug":"2-inch-6h-n-silicon-carbide-wafer","status":"publish","type":"product","link":"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/it\/product\/2-inch-6h-n-silicon-carbide-wafer\/","title":{"rendered":"Wafer di carburo di silicio 6H-N da 2 pollici"},"content":{"rendered":"<p data-start=\"963\" data-end=\"1235\"><img fetchpriority=\"high\" decoding=\"async\" class=\"alignright wp-image-2200 size-medium\" src=\"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/2-Inch-6H-N-Silicon-Carbide-Wafer-4-300x300.jpg\" alt=\"Wafer di carburo di silicio 6H-N da 2 pollici\" width=\"300\" height=\"300\" srcset=\"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/2-Inch-6H-N-Silicon-Carbide-Wafer-4-300x300.jpg 300w, https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/2-Inch-6H-N-Silicon-Carbide-Wafer-4-150x150.jpg 150w, https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/2-Inch-6H-N-Silicon-Carbide-Wafer-4-12x12.jpg 12w, https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/2-Inch-6H-N-Silicon-Carbide-Wafer-4-600x600.jpg 600w, https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/2-Inch-6H-N-Silicon-Carbide-Wafer-4-100x100.jpg 100w, https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/2-Inch-6H-N-Silicon-Carbide-Wafer-4.jpg 768w\" sizes=\"(max-width: 300px) 100vw, 300px\" \/>Il wafer di carburo di silicio 6H-N da 2 pollici \u00e8 un substrato a cristallo singolo progettato per applicazioni a livello di ricerca e di dispositivi. Il politipo 6H presenta una struttura cristallina esagonale che garantisce una conducibilit\u00e0 elettrica stabile e buone prestazioni termiche in condizioni difficili.<\/p>\n<p data-start=\"1237\" data-end=\"1566\">Con un bandgap di circa 3,02 eV, il 6H-SiC consente di operare in ambienti in cui i materiali tradizionali di silicio falliscono, in particolare in condizioni di alta tensione, alta temperatura e alta frequenza. Questo lo rende adatto alla prototipazione di dispositivi in fase iniziale, ai test sui materiali e alla fabbricazione di componenti elettronici specializzati.<\/p>\n<p data-start=\"1568\" data-end=\"1831\">I wafer SiC ZMSH sono prodotti utilizzando tecniche di crescita controllata dei cristalli per garantire una resistivit\u00e0 costante, una bassa densit\u00e0 di difetti e un'elevata qualit\u00e0 superficiale. Questi parametri sono fondamentali per garantire risultati sperimentali riproducibili e prestazioni stabili dei dispositivi.<\/p>\n<h2 data-section-id=\"1ma7m6t\" data-start=\"1838\" data-end=\"1853\">Caratteristiche principali<\/h2>\n<h3 data-section-id=\"vnr6ly\" data-start=\"1855\" data-end=\"1886\">Struttura conduttiva di tipo N<\/h3>\n<p data-start=\"1887\" data-end=\"2053\">Il wafer \u00e8 drogato di tipo N, fornendo percorsi stabili di conduzione degli elettroni adatti alla fabbricazione di dispositivi a semiconduttore e agli esperimenti di caratterizzazione elettrica.<\/p>\n<h3 data-section-id=\"11p7cxy\" data-start=\"2055\" data-end=\"2094\">Materiale semiconduttore ad ampio bandgap<\/h3>\n<p data-start=\"2095\" data-end=\"2265\">Con un bandgap di ~3,02 eV, il SiC supporta un'intensit\u00e0 di campo elettrico significativamente superiore rispetto al silicio, consentendo un funzionamento ad alta tensione e una migliore efficienza del dispositivo.<\/p>\n<h3 data-section-id=\"e3yx30\" data-start=\"2267\" data-end=\"2296\">Alta conducibilit\u00e0 termica<\/h3>\n<p data-start=\"2297\" data-end=\"2499\">Il SiC presenta un'eccellente conduttivit\u00e0 termica, che consente un'efficiente dissipazione del calore dalle regioni attive del dispositivo. Ci\u00f2 migliora l'affidabilit\u00e0 del dispositivo e ne prolunga la vita operativa nelle applicazioni ad alta potenza.<\/p>\n<h3 data-section-id=\"1wy3za\" data-start=\"2501\" data-end=\"2529\">Alta resistenza meccanica<\/h3>\n<p data-start=\"2530\" data-end=\"2685\">Con una durezza Mohs di circa 9,2, i wafer di SiC offrono una forte resistenza ai danni meccanici, all'usura superficiale e alle sollecitazioni di lavorazione durante la fabbricazione.<\/p>\n<h3 data-section-id=\"1q1cz8k\" data-start=\"2687\" data-end=\"2720\">Elevato campo elettrico di ripartizione<\/h3>\n<p data-start=\"2721\" data-end=\"2879\">L'elevata intensit\u00e0 del campo di rottura consente di realizzare strutture compatte dei dispositivi mantenendo un'elevata tolleranza alla tensione, rendendo il SiC ideale per l'elettronica di potenza avanzata.<\/p>\n<h2 data-section-id=\"1cgu054\" data-start=\"2886\" data-end=\"2913\">Specifiche tecniche<\/h2>\n<div class=\"TyagGW_tableContainer\">\n<div class=\"group TyagGW_tableWrapper flex flex-col-reverse w-fit\" tabindex=\"-1\">\n<table class=\"w-fit min-w-(--thread-content-width)\" data-start=\"2915\" data-end=\"3396\">\n<thead data-start=\"2915\" data-end=\"2944\">\n<tr data-start=\"2915\" data-end=\"2944\">\n<th class=\"\" data-start=\"2915\" data-end=\"2927\" data-col-size=\"sm\">Parametro<\/th>\n<th class=\"\" data-start=\"2927\" data-end=\"2944\" data-col-size=\"sm\">Specifiche<\/th>\n<\/tr>\n<\/thead>\n<tbody data-start=\"2974\" data-end=\"3396\">\n<tr data-start=\"2974\" data-end=\"3019\">\n<td data-start=\"2974\" data-end=\"2985\" data-col-size=\"sm\">Materiale<\/td>\n<td data-start=\"2985\" data-end=\"3019\" data-col-size=\"sm\">Carburo di silicio a cristallo singolo<\/td>\n<\/tr>\n<tr data-start=\"3020\" data-end=\"3036\">\n<td data-start=\"3020\" data-end=\"3028\" data-col-size=\"sm\">Marchio<\/td>\n<td data-col-size=\"sm\" data-start=\"3028\" data-end=\"3036\">ZMSH<\/td>\n<\/tr>\n<tr data-start=\"3037\" data-end=\"3056\">\n<td data-start=\"3037\" data-end=\"3048\" data-col-size=\"sm\">Politipo<\/td>\n<td data-start=\"3048\" data-end=\"3056\" data-col-size=\"sm\">6H-N<\/td>\n<\/tr>\n<tr data-start=\"3057\" data-end=\"3088\">\n<td data-start=\"3057\" data-end=\"3068\" data-col-size=\"sm\">Diametro<\/td>\n<td data-start=\"3068\" data-end=\"3088\" data-col-size=\"sm\">2 pollici (50,8 mm)<\/td>\n<\/tr>\n<tr data-start=\"3089\" data-end=\"3120\">\n<td data-start=\"3089\" data-end=\"3101\" data-col-size=\"sm\">Spessore<\/td>\n<td data-col-size=\"sm\" data-start=\"3101\" data-end=\"3120\">350 \u03bcm \/ 650 \u03bcm<\/td>\n<\/tr>\n<tr data-start=\"3121\" data-end=\"3151\">\n<td data-start=\"3121\" data-end=\"3141\" data-col-size=\"sm\">Tipo di conducibilit\u00e0<\/td>\n<td data-start=\"3141\" data-end=\"3151\" data-col-size=\"sm\">Tipo N<\/td>\n<\/tr>\n<tr data-start=\"3152\" data-end=\"3193\">\n<td data-start=\"3152\" data-end=\"3169\" data-col-size=\"sm\">Finitura superficiale<\/td>\n<td data-start=\"3169\" data-end=\"3193\" data-col-size=\"sm\">CMP faccia a vista lucidata<\/td>\n<\/tr>\n<tr data-start=\"3194\" data-end=\"3236\">\n<td data-start=\"3194\" data-end=\"3213\" data-col-size=\"sm\">Trattamento del viso C<\/td>\n<td data-col-size=\"sm\" data-start=\"3213\" data-end=\"3236\">Lucidato meccanicamente<\/td>\n<\/tr>\n<tr data-start=\"3237\" data-end=\"3282\">\n<td data-start=\"3237\" data-end=\"3257\" data-col-size=\"sm\">Ruvidit\u00e0 della superficie<\/td>\n<td data-start=\"3257\" data-end=\"3282\" data-col-size=\"sm\">Ra &lt; 0,2 nm (faccia Si)<\/td>\n<\/tr>\n<tr data-start=\"3283\" data-end=\"3319\">\n<td data-start=\"3283\" data-end=\"3297\" data-col-size=\"sm\">Resistivit\u00e0<\/td>\n<td data-start=\"3297\" data-end=\"3319\" data-col-size=\"sm\">0,015 - 0,028 \u03a9-cm<\/td>\n<\/tr>\n<tr data-start=\"3320\" data-end=\"3357\">\n<td data-start=\"3320\" data-end=\"3328\" data-col-size=\"sm\">Colore<\/td>\n<td data-start=\"3328\" data-end=\"3357\" data-col-size=\"sm\">Trasparente \/ Verde chiaro<\/td>\n<\/tr>\n<tr data-start=\"3358\" data-end=\"3396\">\n<td data-start=\"3358\" data-end=\"3370\" data-col-size=\"sm\">Imballaggio<\/td>\n<td data-col-size=\"sm\" data-start=\"3370\" data-end=\"3396\">Contenitore a singolo wafer<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n<\/div>\n<\/div>\n<h2 data-section-id=\"1n7fwp8\" data-start=\"3403\" data-end=\"3435\">Propriet\u00e0 del materiale 6H-SiC<\/h2>\n<div class=\"TyagGW_tableContainer\">\n<div class=\"group TyagGW_tableWrapper flex flex-col-reverse w-fit\" tabindex=\"-1\">\n<table class=\"w-fit min-w-(--thread-content-width)\" data-start=\"3437\" data-end=\"3869\">\n<thead data-start=\"3437\" data-end=\"3457\">\n<tr data-start=\"3437\" data-end=\"3457\">\n<th class=\"\" data-start=\"3437\" data-end=\"3448\" data-col-size=\"sm\">Propriet\u00e0<\/th>\n<th class=\"\" data-start=\"3448\" data-end=\"3457\" data-col-size=\"sm\">Valore<\/th>\n<\/tr>\n<\/thead>\n<tbody data-start=\"3478\" data-end=\"3869\">\n<tr data-start=\"3478\" data-end=\"3528\">\n<td data-start=\"3478\" data-end=\"3499\" data-col-size=\"sm\">Parametri del reticolo<\/td>\n<td data-col-size=\"sm\" data-start=\"3499\" data-end=\"3528\">a = 3,073 \u00c5, c = 15,117 \u00c5<\/td>\n<\/tr>\n<tr data-start=\"3529\" data-end=\"3554\">\n<td data-start=\"3529\" data-end=\"3545\" data-col-size=\"sm\">Durezza Mohs<\/td>\n<td data-start=\"3545\" data-end=\"3554\" data-col-size=\"sm\">\u2248 9.2<\/td>\n<\/tr>\n<tr data-start=\"3555\" data-end=\"3579\">\n<td data-start=\"3555\" data-end=\"3565\" data-col-size=\"sm\">Densit\u00e0<\/td>\n<td data-start=\"3565\" data-end=\"3579\" data-col-size=\"sm\">3,21 g\/cm\u00b3<\/td>\n<\/tr>\n<tr data-start=\"3580\" data-end=\"3628\">\n<td data-start=\"3580\" data-end=\"3612\" data-col-size=\"sm\">Coefficiente di espansione termica<\/td>\n<td data-col-size=\"sm\" data-start=\"3612\" data-end=\"3628\">4-5 \u00d710-\u2076 \/K<\/td>\n<\/tr>\n<tr data-start=\"3629\" data-end=\"3681\">\n<td data-start=\"3629\" data-end=\"3657\" data-col-size=\"sm\">Indice di rifrazione (750 nm)<\/td>\n<td data-col-size=\"sm\" data-start=\"3657\" data-end=\"3681\">n\u2080 = 2,60, n\u2091 = 2,65<\/td>\n<\/tr>\n<tr data-start=\"3682\" data-end=\"3714\">\n<td data-start=\"3682\" data-end=\"3704\" data-col-size=\"sm\">Costante dielettrica<\/td>\n<td data-col-size=\"sm\" data-start=\"3704\" data-end=\"3714\">\u2248 9.66<\/td>\n<\/tr>\n<tr data-start=\"3715\" data-end=\"3757\">\n<td data-start=\"3715\" data-end=\"3738\" data-col-size=\"sm\">Conduttivit\u00e0 termica<\/td>\n<td data-col-size=\"sm\" data-start=\"3738\" data-end=\"3757\">~3,7-3,9 W\/cm-K<\/td>\n<\/tr>\n<tr data-start=\"3758\" data-end=\"3779\">\n<td data-start=\"3758\" data-end=\"3768\" data-col-size=\"sm\">Bandgap<\/td>\n<td data-col-size=\"sm\" data-start=\"3768\" data-end=\"3779\">3,02 eV<\/td>\n<\/tr>\n<tr data-start=\"3780\" data-end=\"3824\">\n<td data-start=\"3780\" data-end=\"3807\" data-col-size=\"sm\">Campo elettrico di ripartizione<\/td>\n<td data-start=\"3807\" data-end=\"3824\" data-col-size=\"sm\">3-5 \u00d710\u2076 V\/cm<\/td>\n<\/tr>\n<tr data-start=\"3825\" data-end=\"3869\">\n<td data-start=\"3825\" data-end=\"3853\" data-col-size=\"sm\">Velocit\u00e0 della deriva di saturazione<\/td>\n<td data-start=\"3853\" data-end=\"3869\" data-col-size=\"sm\">2,0 \u00d710\u2075 m\/s<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n<\/div>\n<\/div>\n<p data-start=\"3871\" data-end=\"4019\">Queste propriet\u00e0 fisiche intrinseche rendono il 6H-SiC adatto ad applicazioni che richiedono prestazioni stabili in condizioni elettriche e termiche estreme.<\/p>\n<h2 data-section-id=\"2gad1q\" data-start=\"4026\" data-end=\"4050\"><img decoding=\"async\" class=\"alignright wp-image-2199 size-medium\" src=\"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/2-Inch-6H-N-Silicon-Carbide-Wafer-3-300x300.jpg\" alt=\"Wafer di carburo di silicio 6H-N da 2 pollici\" width=\"300\" height=\"300\" 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(PVT)<\/strong>, un processo industriale maturo per la crescita di cristalli di semiconduttori ad ampio bandgap.<\/p>\n<p data-start=\"4230\" data-end=\"4588\">In questo processo, il materiale di partenza SiC di elevata purezza viene sublimato a temperature superiori ai 2000\u00b0C. Le specie di vapore vengono trasportate attraverso un gradiente termico attentamente controllato e ricristallizzate su un cristallo seme, formando un lingotto a cristallo singolo (boule). Dopo la crescita, il lingotto viene trasformato in wafer attraverso fasi di taglio, lappatura, lucidatura e pulizia.<\/p>\n<p data-start=\"4590\" data-end=\"4829\">Per le applicazioni dei dispositivi, i wafer possono essere sottoposti a ulteriori <strong data-start=\"4645\" data-end=\"4697\">Crescita epitassiale per deposizione di vapore chimico (CVD)<\/strong>, che consente un controllo preciso della concentrazione di drogaggio e dello spessore dello strato. Questa fase \u00e8 essenziale per la fabbricazione di MOSFET e diodi.<\/p>\n<h2 data-section-id=\"mu966k\" data-start=\"4836\" data-end=\"4851\">Applicazioni<\/h2>\n<h3 data-section-id=\"179s0bs\" data-start=\"4853\" data-end=\"4874\">Elettronica di potenza<\/h3>\n<p data-start=\"4875\" data-end=\"5118\">I wafer SiC 6H-N da 2 pollici sono utilizzati per lo sviluppo e la prototipazione di dispositivi a semiconduttore di potenza, tra cui diodi, strutture MOSFET e moduli di potenza. Questi dispositivi sono essenziali per i sistemi di conversione dell'energia e per i circuiti di gestione dell'energia.<\/p>\n<h3 data-section-id=\"1nehkbc\" data-start=\"5120\" data-end=\"5152\">Elettronica per alte temperature<\/h3>\n<p data-start=\"5153\" data-end=\"5350\">I materiali SiC mantengono stabili le prestazioni elettriche a temperature elevate, rendendoli adatti all'elettronica aerospaziale, ai sistemi di monitoraggio industriale e alle applicazioni per le infrastrutture energetiche.<\/p>\n<h3 data-section-id=\"1a4n6oc\" data-start=\"5352\" data-end=\"5394\">Ricerca e sviluppo dei semiconduttori<\/h3>\n<p data-start=\"5395\" data-end=\"5606\">Grazie alla loro disponibilit\u00e0 ed economicit\u00e0, i wafer da 2 pollici sono ampiamente utilizzati nei laboratori universitari, negli istituti di ricerca e negli ambienti di produzione pilota per lo studio dei materiali e la sperimentazione dei dispositivi.<\/p>\n<h3 data-section-id=\"ll3d0j\" data-start=\"5608\" data-end=\"5651\">Applicazioni optoelettroniche e speciali<\/h3>\n<p data-start=\"5652\" data-end=\"5803\">Il SiC presenta anche una trasparenza ottica in alcuni intervalli di lunghezza d'onda, che ne consente l'uso in applicazioni di ricerca fotonica e optoelettronica specializzate.<\/p>\n<h2 data-section-id=\"1344z7h\" data-start=\"5810\" data-end=\"5823\">Vantaggi<img decoding=\"async\" class=\"alignright wp-image-2198 size-medium\" src=\"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/2-Inch-6H-N-Silicon-Carbide-Wafer-2-300x300.jpg\" alt=\"Wafer di carburo di silicio 6H-N da 2 pollici\" width=\"300\" height=\"300\" srcset=\"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/2-Inch-6H-N-Silicon-Carbide-Wafer-2-300x300.jpg 300w, https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/2-Inch-6H-N-Silicon-Carbide-Wafer-2-150x150.jpg 150w, https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/2-Inch-6H-N-Silicon-Carbide-Wafer-2-12x12.jpg 12w, https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/2-Inch-6H-N-Silicon-Carbide-Wafer-2-600x600.jpg 600w, https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/2-Inch-6H-N-Silicon-Carbide-Wafer-2-100x100.jpg 100w, https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/2-Inch-6H-N-Silicon-Carbide-Wafer-2.jpg 680w\" sizes=\"(max-width: 300px) 100vw, 300px\" \/><\/h2>\n<p data-start=\"5825\" data-end=\"5912\">La piattaforma di wafer SiC da 2 pollici offre diversi vantaggi per la ricerca e lo sviluppo:<\/p>\n<ul data-start=\"5914\" data-end=\"6173\">\n<li data-section-id=\"1yf7wqu\" data-start=\"5914\" data-end=\"5959\">Costo inferiore rispetto a wafer di dimensioni maggiori<\/li>\n<li data-section-id=\"11d9i41\" data-start=\"5960\" data-end=\"6012\">Manipolazione pi\u00f9 semplice per gli esperimenti su scala di laboratorio<\/li>\n<li data-section-id=\"14o6up\" data-start=\"6013\" data-end=\"6067\">Adatto alla prototipazione rapida e ai test di processo<\/li>\n<li data-section-id=\"hisoip\" data-start=\"6068\" data-end=\"6119\">Qualit\u00e0 stabile dei cristalli per risultati riproducibili<\/li>\n<li data-section-id=\"15p5ai3\" data-start=\"6120\" data-end=\"6173\">Opzioni di personalizzazione flessibili per le esigenze di ricerca<\/li>\n<\/ul>\n<h2 data-section-id=\"1hryhf7\" data-start=\"6180\" data-end=\"6186\">FAQ<\/h2>\n<h3 data-section-id=\"15ecyhq\" data-start=\"6188\" data-end=\"6245\">D1: Qual \u00e8 la differenza tra 6H-SiC e 4H-SiC?<\/h3>\n<p data-start=\"6246\" data-end=\"6513\">Il 6H-SiC e il 4H-SiC sono politipi cristallini diversi. Il 4H-SiC offre generalmente una maggiore mobilit\u00e0 degli elettroni ed \u00e8 ampiamente utilizzato nei dispositivi di potenza commerciali, mentre il 6H-SiC offre un comportamento elettrico stabile ed \u00e8 comunemente utilizzato nella ricerca e in applicazioni elettroniche specifiche.<\/p>\n<h3 data-section-id=\"12y4qe9\" data-start=\"6515\" data-end=\"6570\">D2: Quale trattamento superficiale viene applicato al wafer?<\/h3>\n<p data-start=\"6571\" data-end=\"6773\">La faccia in Si \u00e8 lucidata mediante lucidatura meccanica chimica (CMP) per ottenere una qualit\u00e0 superficiale ultra-liscia (Ra &lt; 0,2 nm). La faccia C \u00e8 lucidata meccanicamente per supportare diversi requisiti di lavorazione.<\/p>\n<h3 data-section-id=\"kxekf6\" data-start=\"6775\" data-end=\"6822\">Q3: Le specifiche dei wafer possono essere personalizzate?<\/h3>\n<p data-start=\"6823\" data-end=\"6985\">S\u00ec. ZMSH offre opzioni di personalizzazione che includono lo spessore, la concentrazione di drogaggio, l'intervallo di resistivit\u00e0 e la preparazione della superficie in base alle esigenze del cliente.<\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>ZMSH fornisce wafer di carburo di silicio (SiC) da 2 pollici 6H-N di alta qualit\u00e0 progettati per la ricerca sui semiconduttori, lo sviluppo dell'elettronica di potenza e la fabbricazione di dispositivi elettronici ad alte prestazioni. Il carburo di silicio \u00e8 un materiale semiconduttore ad ampio bandgap che offre propriet\u00e0 elettriche, termiche e meccaniche superiori rispetto ai substrati di silicio (Si) convenzionali.<\/p>","protected":false},"featured_media":2197,"comment_status":"open","ping_status":"closed","template":"","meta":{"site-sidebar-layout":"default","site-content-layout":"","ast-site-content-layout":"default","site-content-style":"default","site-sidebar-style":"default","ast-global-header-display":"","ast-banner-title-visibility":"","ast-main-header-display":"","ast-hfb-above-header-display":"","ast-hfb-below-header-display":"","ast-hfb-mobile-header-display":"","site-post-title":"","ast-breadcrumbs-content":"","ast-featured-img":"","footer-sml-layout":"","ast-disable-related-posts":"","theme-transparent-header-meta":"default","adv-header-id-meta":"","stick-header-meta":"default","header-above-stick-meta":"","header-main-stick-meta":"","header-below-stick-meta":"","astra-migrate-meta-layouts":"set","ast-page-background-enabled":"default","ast-page-background-meta":{"desktop":{"background-color":"var(--ast-global-color-4)","background-image":"","background-repeat":"repeat","background-position":"center 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