{"id":2286,"date":"2026-04-20T01:28:55","date_gmt":"2026-04-20T01:28:55","guid":{"rendered":"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/?p=2286"},"modified":"2026-04-20T01:50:00","modified_gmt":"2026-04-20T01:50:00","slug":"sic-semiconductor-equipment-and-materials","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/it\/sic-semiconductor-equipment-and-materials\/","title":{"rendered":"Attrezzature e materiali per semiconduttori in carburo di silicio (SiC)"},"content":{"rendered":"<p>Il carburo di silicio (SiC), materiale rappresentativo della famiglia dei semiconduttori di terza generazione, \u00e8 emerso come pietra angolare per l'elettronica di potenza di prossima generazione, i dispositivi ad alta frequenza e i sistemi ottici avanzati. Grazie alla transizione dai wafer da 8 a 12 pollici e alla fase iniziale di esplorazione dei substrati da 14 pollici, l'industria del SiC sta subendo una trasformazione strutturale, passando da scoperte tecnologiche isolate a un'ottimizzazione della catena di fornitura completamente integrata.<\/p>\n\n\n\n<p>Questo articolo fornisce una panoramica completa e accademica dei recenti progressi nel campo del <a href=\"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/it\/categoria-prodotto\/crystal-growth-furnace\/\"><mark style=\"background-color:rgba(0, 0, 0, 0);color:#0693e3\" class=\"has-inline-color\">Crescita del cristallo di SiC<\/mark><\/a>, Le apparecchiature per la lavorazione dei wafer, i sistemi di metrologia, i materiali per substrati ed epitassiali e le tecnologie di processo ausiliarie. Analizza inoltre come la scalata delle dimensioni dei wafer ridisegni le strutture dei costi, l'efficienza produttiva e la competitivit\u00e0 globale.<\/p>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\">1. Introduzione: Il ruolo strategico del carburo di silicio<\/h2>\n\n\n\n<p>Nella moderna tecnologia dei semiconduttori, i materiali ad ampio bandgap stanno ridefinendo i limiti delle prestazioni dei dispositivi. Tra questi, il SiC si distingue per le sue propriet\u00e0 fisiche ed elettroniche superiori, tra cui:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Ampio bandgap (~3,26 eV)<\/li>\n\n\n\n<li>Elevato campo elettrico critico (~10\u00d7 silicio)<\/li>\n\n\n\n<li>Eccellente conduttivit\u00e0 termica (~3\u00d7 silicio)<\/li>\n\n\n\n<li>Forte resistenza alle radiazioni e agli agenti chimici<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<p>Queste caratteristiche rendono il SiC indispensabile in applicazioni come i veicoli elettrici, i sistemi di energia rinnovabile, i centri dati e le tecnologie ottiche emergenti.<\/p>\n\n\n\n<p>Due tendenze dominanti definiscono l'attuale evoluzione dell'industria del SiC:<\/p>\n\n\n\n<ol class=\"wp-block-list\">\n<li><strong>Espansione delle dimensioni del wafer (6 pollici \u2192 8 pollici \u2192 12 pollici \u2192 14 pollici)<\/strong><\/li>\n\n\n\n<li><strong>Transizione dall'innovazione frammentata alla piena integrazione della catena di fornitura<\/strong><\/li>\n<\/ol>\n\n\n\n<p>Entro il 2026, il settore entrer\u00e0 in una fase critica in cui i risultati ottenuti su scala di laboratorio si tradurranno in capacit\u00e0 di produzione in grandi volumi.<\/p>\n\n\n\n<figure class=\"wp-block-image aligncenter size-full\"><img fetchpriority=\"high\" decoding=\"async\" width=\"540\" height=\"496\" src=\"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/Wafer-size-expansion.webp\" alt=\"\" class=\"wp-image-2287\" srcset=\"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/Wafer-size-expansion.webp 540w, https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/Wafer-size-expansion-300x276.webp 300w, https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/Wafer-size-expansion-13x12.webp 13w\" sizes=\"(max-width: 540px) 100vw, 540px\" \/><\/figure>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\">2. Apparecchiature per la crescita dei cristalli: La base della catena del valore del SiC<\/h2>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">2.1 Il trasporto fisico del vapore (PVT) come tecnologia principale<\/h3>\n\n\n\n<p>Il metodo dominante per la crescita dei cristalli singoli di SiC \u00e8 il trasporto fisico da vapore. A differenza del silicio, il SiC non pu\u00f2 essere coltivato da una fusione a causa della sua temperatura di sublimazione estremamente elevata. Invece, il materiale solido di partenza del SiC sublima ad alta temperatura e ricristallizza su un cristallo seme.<\/p>\n\n\n\n<p>Le principali sfide tecniche per la scalata a cristalli da 12 pollici includono:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Mantenimento della stabilit\u00e0 termica oltre i 2000\u00b0C<\/li>\n\n\n\n<li>Controllo dei gradienti di temperatura su grandi diametri<\/li>\n\n\n\n<li>Garantire un trasporto uniforme del vapore<\/li>\n\n\n\n<li>Raggiungere la stabilit\u00e0 del processo a lungo termine<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<p>Il successo della transizione verso la crescita di cristalli da 12 pollici segna un passaggio cruciale verso la produzione su scala industriale paragonabile all'ecosistema del silicio.<\/p>\n\n\n\n<figure class=\"wp-block-image aligncenter size-full\"><img decoding=\"async\" width=\"750\" height=\"648\" src=\"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/sic_crystal_growth_furnace_pvt_lpe_ht_cvd_high_quality_sic_single_crystal_growth_method2.webp\" alt=\"\" class=\"wp-image-2288\" srcset=\"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/sic_crystal_growth_furnace_pvt_lpe_ht_cvd_high_quality_sic_single_crystal_growth_method2.webp 750w, https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/sic_crystal_growth_furnace_pvt_lpe_ht_cvd_high_quality_sic_single_crystal_growth_method2-300x259.webp 300w, https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/sic_crystal_growth_furnace_pvt_lpe_ht_cvd_high_quality_sic_single_crystal_growth_method2-14x12.webp 14w, https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/sic_crystal_growth_furnace_pvt_lpe_ht_cvd_high_quality_sic_single_crystal_growth_method2-600x518.webp 600w\" sizes=\"(max-width: 750px) 100vw, 750px\" \/><\/figure>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">2.2 Approcci alternativi: Crescita in fase liquida<\/h3>\n\n\n\n<p>Oltre alla PVT, l'epitassi in fase liquida e le relative tecniche di crescita in fase liquida stanno guadagnando attenzione. Questi approcci offrono:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Densit\u00e0 di difetti inferiori<\/li>\n\n\n\n<li>Migliore controllo dell'incorporazione del drogante<\/li>\n\n\n\n<li>Vantaggi nella crescita di materiali di tipo p<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<p>Anche se ancora in fase di sviluppo, i metodi in fase liquida possono integrare la PVT in applicazioni specializzate e ad alte prestazioni.<\/p>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">2.3 Ingegneria del campo termico e controllo dei difetti<\/h3>\n\n\n\n<p>La qualit\u00e0 dei cristalli SiC \u00e8 altamente sensibile alla distribuzione del campo termico. I sistemi avanzati ora incorporano:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Configurazioni di riscaldamento multizona<\/li>\n\n\n\n<li>Controllo termico in tempo reale<\/li>\n\n\n\n<li>Simulazioni accoppiate termico-fluidiche<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<p>Queste innovazioni riducono in modo significativo i difetti come i micropipe e le dislocazioni, che influiscono direttamente sulla resa e sull'affidabilit\u00e0 dei dispositivi.<\/p>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\">3. Apparecchiature per il trattamento dei wafer: Produzione di precisione per materiali duri e fragili<\/h2>\n\n\n\n<p>Il SiC \u00e8 uno dei materiali per semiconduttori pi\u00f9 duri, con un valore della scala di durezza Mohs pari a 9. Ci\u00f2 crea notevoli difficolt\u00e0 nella lavorazione dei wafer.<\/p>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">3.1 Tecnologia di assottigliamento: Ottenere un'uniformit\u00e0 inferiore al micron<\/h3>\n\n\n\n<p>L'assottigliamento dei wafer \u00e8 essenziale per la fabbricazione dei dispositivi e la gestione termica. I principali progressi includono:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Controllo della variazione di spessore entro 1 \u03bcm<\/li>\n\n\n\n<li>Mandrini a cuscinetto d'aria di estrema precisione<\/li>\n\n\n\n<li>Sistemi di manipolazione dei wafer sotto vuoto o elettrostatici<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<p>L'integrazione dell'assottigliamento con i processi di separazione degli strati basati sul laser riduce la perdita di materiale fino a 30%, migliorando significativamente l'efficienza dei costi.<\/p>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">3.2 Taglio e cubettatura: Ottimizzazione dell'efficienza e della resa<\/h3>\n\n\n\n<p>Vengono utilizzati due approcci di taglio principali:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Segatura multifilo per lingotti<\/li>\n\n\n\n<li>Taglio a cubetti per wafer lavorati<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<p>Le recenti innovazioni si concentrano su:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Aumento della produttivit\u00e0 per utensile<\/li>\n\n\n\n<li>Riduzione della perdita di spessore<\/li>\n\n\n\n<li>Riduzione al minimo della scheggiatura dei bordi e dei danni al sottosuolo<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<p>Questi miglioramenti sono fondamentali per aumentare la produzione e soddisfare la crescente domanda di elettronica di potenza.<\/p>\n\n\n\n<figure class=\"wp-block-image alignfull size-full\"><img decoding=\"async\" width=\"1000\" height=\"1000\" src=\"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/High-Precision-12-inch-Wafer-Dicing-Solution-for-Advanced-Semiconductor-Processing2.png\" alt=\"\" class=\"wp-image-2144\" srcset=\"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/High-Precision-12-inch-Wafer-Dicing-Solution-for-Advanced-Semiconductor-Processing2.png 1000w, https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/High-Precision-12-inch-Wafer-Dicing-Solution-for-Advanced-Semiconductor-Processing2-300x300.png 300w, https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/High-Precision-12-inch-Wafer-Dicing-Solution-for-Advanced-Semiconductor-Processing2-150x150.png 150w, https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/High-Precision-12-inch-Wafer-Dicing-Solution-for-Advanced-Semiconductor-Processing2-768x768.png 768w, https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/High-Precision-12-inch-Wafer-Dicing-Solution-for-Advanced-Semiconductor-Processing2-12x12.png 12w, https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/High-Precision-12-inch-Wafer-Dicing-Solution-for-Advanced-Semiconductor-Processing2-600x600.png 600w, https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/High-Precision-12-inch-Wafer-Dicing-Solution-for-Advanced-Semiconductor-Processing2-100x100.png 100w\" sizes=\"(max-width: 1000px) 100vw, 1000px\" \/><\/figure>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">3.3 Tecnologie di separazione basate sul laser<\/h3>\n\n\n\n<p>Le tecnologie di lavorazione laser, tra cui il laser lift-off e il taglio laser guidato dall'acqua, stanno diventando essenziali per la produzione avanzata di SiC.<\/p>\n\n\n\n<p>I vantaggi includono:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Elaborazione senza contatto<\/li>\n\n\n\n<li>Riduzione delle sollecitazioni meccaniche<\/li>\n\n\n\n<li>Maggiore utilizzo del materiale<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<p>Questi metodi sono particolarmente importanti per i wafer ultrasottili e per l'integrazione eterogenea.<\/p>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\">4. Metrologia e ispezione: Consentire il controllo della resa<\/h2>\n\n\n\n<p>I sistemi di ispezione sono gli \u201cocchi\u201d della produzione di semiconduttori. La metrologia SiC di alto livello si concentra su:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Rilevamento dei difetti di superficie<\/li>\n\n\n\n<li>Analisi del danno sottosuperficiale<\/li>\n\n\n\n<li>Misura dell'uniformit\u00e0 dello strato epitassiale<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<p>I recenti progressi nelle tecnologie metrologiche nazionali hanno ridotto il divario con i leader mondiali, consentendo un controllo pi\u00f9 preciso dei processi e tassi di rendimento pi\u00f9 elevati.<\/p>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\">5. Substrati ed epitassi: Dal dimensionamento all'ottimizzazione della qualit\u00e0<\/h2>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">5.1 Sviluppo del substrato: Maturit\u00e0 a 12 pollici ed esplorazione a 14 pollici<\/h3>\n\n\n\n<p>Il passaggio a wafer pi\u00f9 grandi migliora significativamente l'efficienza produttiva:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Rispetto ai wafer da 6 pollici: &gt; 3 volte la produzione del chip<\/li>\n\n\n\n<li>Rispetto ai wafer da 8 pollici: aumento di ~2,25\u00d7<\/li>\n\n\n\n<li>Riduzione dei costi stimata: ~40%<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<p>Nel frattempo, la fase iniziale di sviluppo di cristalli da 14 pollici indica la prossima frontiera nella scalabilit\u00e0 dei wafer.<\/p>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">5.2 Crescita epitassiale: Il passo finale per le prestazioni del dispositivo<\/h3>\n\n\n\n<p>L'epitassia forma lo strato attivo dei dispositivi a semiconduttore. I processi epitassiali avanzati del SiC consentono di ottenere:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Uniformit\u00e0 di spessore &lt;3%<\/li>\n\n\n\n<li>Uniformit\u00e0 di drogaggio \u22648%<\/li>\n\n\n\n<li>Resa del dispositivo &gt;96%<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<p>L'integrazione delle apparecchiature di epitassia con la produzione di substrati rappresenta un passo fondamentale verso la completa ottimizzazione del processo.<\/p>\n\n\n\n<figure class=\"wp-block-image aligncenter size-full\"><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" width=\"1000\" height=\"1000\" src=\"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/Split-Type-Vertical-Airflow-SiC-Epitaxy-Equipment-for-68-Epi-Wafers-3-1.png\" alt=\"\" class=\"wp-image-2091\" srcset=\"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/Split-Type-Vertical-Airflow-SiC-Epitaxy-Equipment-for-68-Epi-Wafers-3-1.png 1000w, https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/Split-Type-Vertical-Airflow-SiC-Epitaxy-Equipment-for-68-Epi-Wafers-3-1-300x300.png 300w, https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/Split-Type-Vertical-Airflow-SiC-Epitaxy-Equipment-for-68-Epi-Wafers-3-1-150x150.png 150w, https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/Split-Type-Vertical-Airflow-SiC-Epitaxy-Equipment-for-68-Epi-Wafers-3-1-768x768.png 768w, https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/Split-Type-Vertical-Airflow-SiC-Epitaxy-Equipment-for-68-Epi-Wafers-3-1-12x12.png 12w, https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/Split-Type-Vertical-Airflow-SiC-Epitaxy-Equipment-for-68-Epi-Wafers-3-1-600x600.png 600w, https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/Split-Type-Vertical-Airflow-SiC-Epitaxy-Equipment-for-68-Epi-Wafers-3-1-100x100.png 100w\" sizes=\"(max-width: 1000px) 100vw, 1000px\" \/><\/figure>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">5.3 Applicazioni ottiche emergenti<\/h3>\n\n\n\n<p>Oltre all'elettronica di potenza, il SiC si sta espandendo nelle applicazioni ottiche grazie al suo elevato indice di rifrazione e alla sua trasparenza.<\/p>\n\n\n\n<p>Un'innovazione degna di nota \u00e8 rappresentata dai reticoli ottici con struttura a gradiente, che consentono di ottenere un'immagine di qualit\u00e0:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Display a guida d'onda a colori<\/li>\n\n\n\n<li>Architetture ottiche semplificate<\/li>\n\n\n\n<li>Maggiore efficienza nei sistemi AR\/VR<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<p>Questo apre nuove opportunit\u00e0 nell'elettronica di consumo e nelle tecnologie di imaging avanzate.<\/p>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\">6. Materiali di supporto e imballaggio avanzato<\/h2>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">6.1 Tecnologie di lucidatura e slurry<\/h3>\n\n\n\n<p>Gli impasti di lucidatura ad alte prestazioni sono essenziali per ottenere superfici prive di difetti. Le innovazioni includono:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Dispersione multimodale delle particelle<\/li>\n\n\n\n<li>Abrasivi chimicamente modificati<\/li>\n\n\n\n<li>Riduzione dei danni al sottosuolo<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<p>Queste tecnologie sono fondamentali sia per la preparazione dei substrati che per le applicazioni ottiche.<\/p>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">6.2 Gestione termica nell'imballaggio avanzato<\/h3>\n\n\n\n<p>Con l'aumento della densit\u00e0 di potenza nell'IA e nel calcolo ad alte prestazioni, la gestione termica \u00e8 diventata una sfida cruciale.<\/p>\n\n\n\n<p>Il SiC offre vantaggi significativi grazie alla sua elevata conducibilit\u00e0 termica, che lo rende un candidato promettente per la realizzazione di un'opera di ingegneria:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Diffusori di calore<\/li>\n\n\n\n<li>Materiali dell'interpositore<\/li>\n\n\n\n<li>Substrati di imballaggio avanzati<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<p>Le future architetture di packaging potrebbero incorporare sempre pi\u00f9 SiC per migliorare le prestazioni e l'affidabilit\u00e0.<\/p>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\">7. Paesaggio globale e prospettive future<\/h2>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">7.1 Intensificazione della concorrenza nel settore dei wafer di grande diametro<\/h3>\n\n\n\n<p>La corsa globale verso i 12 pollici e oltre sta accelerando. Le tendenze principali includono:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Sviluppo parallelo della produzione di massa da 8 pollici e della R&amp;S da 12 pollici<\/li>\n\n\n\n<li>Aumento degli investimenti in impianti di produzione su larga scala<\/li>\n\n\n\n<li>Crescente enfasi sull'integrazione verticale<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">7.2 Dalla scala dimensionale alla trasformazione dei costi<\/h3>\n\n\n\n<p>In prospettiva, si prevede che diverse tendenze influenzeranno l'industria del SiC:<\/p>\n\n\n\n<ol class=\"wp-block-list\">\n<li><strong>Produzione di massa di wafer da 12 pollici (2026-2027)<\/strong><\/li>\n\n\n\n<li><strong>Espansione in nuove applicazioni, come i data center AI e i dispositivi AR.<\/strong><\/li>\n\n\n\n<li><strong>Diversificazione delle tecnologie di crescita e lavorazione<\/strong><\/li>\n\n\n\n<li><strong>Passaggio dall'importazione di attrezzature alla capacit\u00e0 di esportazione globale<\/strong><\/li>\n<\/ol>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\">8. Conclusione<\/h2>\n\n\n\n<p>L'industria dei semiconduttori SiC sta subendo una profonda trasformazione guidata dalla scalata delle dimensioni dei wafer e dall'integrazione completa della catena di fornitura. Dai progressi nella crescita di cristalli da 12 pollici alle prime esplorazioni di substrati da 14 pollici, dalla lavorazione di precisione sub-micron alle tecnologie epitassiali avanzate, ogni innovazione contribuisce a rendere l'ecosistema pi\u00f9 maturo e competitivo.<\/p>\n\n\n\n<p>Con la continua evoluzione delle tecnologie di produzione, il SiC \u00e8 pronto a passare da materiale di nicchia per applicazioni di fascia alta a piattaforma per semiconduttori mainstream. La convergenza dell'innovazione delle apparecchiature, della scienza dei materiali e dell'ingegneria di processo definir\u00e0 in ultima analisi il ritmo di questa transizione.<\/p>\n\n\n\n<p>In questo contesto, le dimensioni dei wafer non sono pi\u00f9 solo un parametro tecnico, ma rappresentano efficienza, vantaggio economico e posizionamento strategico nel panorama globale dei semiconduttori.<\/p>\n\n\n\n<p><\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Silicon carbide (SiC), a representative material of the third-generation semiconductor family, has emerged as a cornerstone for next-generation power electronics, high-frequency devices, and advanced optical systems. 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