{"id":2280,"date":"2026-04-17T02:27:09","date_gmt":"2026-04-17T02:27:09","guid":{"rendered":"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/?p=2280"},"modified":"2026-04-17T02:28:35","modified_gmt":"2026-04-17T02:28:35","slug":"tgv-technology-for-advanced-packaging","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/it\/tgv-technology-for-advanced-packaging\/","title":{"rendered":"Tecnologia TGV (Through Glass Via) per l'imballaggio avanzato"},"content":{"rendered":"<h2 class=\"wp-block-heading\">1. Introduzione: Contesto industriale e contesto ingegneristico<\/h2>\n\n\n\n<p>Nel settore del packaging avanzato dei semiconduttori, la continua richiesta di una maggiore larghezza di banda, di una minore perdita di segnale e di una migliore stabilit\u00e0 termica sta determinando una transizione dai tradizionali substrati organici verso materiali di interconnessione pi\u00f9 avanzati.<\/p>\n\n\n\n<p>Sulla base delle tendenze di sviluppo industriale osservate nelle linee di produzione di substrati e imballaggi avanzati, i substrati di vetro hanno dimostrato sempre pi\u00f9 un forte potenziale nelle applicazioni ad alta frequenza e ad alta densit\u00e0 grazie alle loro caratteristiche:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Bassa costante dielettrica (Dk)<\/li>\n\n\n\n<li>Bassa perdita dielettrica (Df)<\/li>\n\n\n\n<li>Elevata stabilit\u00e0 dimensionale<\/li>\n\n\n\n<li>Eccellenti propriet\u00e0 di isolamento elettrico<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<p>Tra le tecnologie di interconnessione basate sul vetro, la tecnologia TGV (Through Glass Via) \u00e8 emersa come una soluzione abilitante fondamentale per le architetture di packaging di prossima generazione, tra cui interposer 2,5D, moduli RF e sistemi di elaborazione ad alte prestazioni.<\/p>\n\n\n\n<figure class=\"wp-block-image aligncenter size-large\"><img fetchpriority=\"high\" decoding=\"async\" width=\"1024\" height=\"1024\" src=\"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/Through-Glass-Via-TGV-Technology-for-Advanced-Packaging-1024x1024.jpg\" alt=\"\" class=\"wp-image-2281\" srcset=\"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/Through-Glass-Via-TGV-Technology-for-Advanced-Packaging-1024x1024.jpg 1024w, https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/Through-Glass-Via-TGV-Technology-for-Advanced-Packaging-300x300.jpg 300w, https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/Through-Glass-Via-TGV-Technology-for-Advanced-Packaging-150x150.jpg 150w, https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/Through-Glass-Via-TGV-Technology-for-Advanced-Packaging-768x768.jpg 768w, https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/Through-Glass-Via-TGV-Technology-for-Advanced-Packaging-12x12.jpg 12w, https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/Through-Glass-Via-TGV-Technology-for-Advanced-Packaging-600x600.jpg 600w, https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/Through-Glass-Via-TGV-Technology-for-Advanced-Packaging-100x100.jpg 100w, https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/wp-content\/uploads\/2026\/04\/Through-Glass-Via-TGV-Technology-for-Advanced-Packaging.jpg 1120w\" sizes=\"(max-width: 1024px) 100vw, 1024px\" \/><\/figure>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\">2. Definizione tecnica di TGV (Through Glass Via)<\/h2>\n\n\n\n<p><strong>Attraverso il vetro (TGV)<\/strong> si riferisce a una struttura di interconnessione verticale formata dalla creazione di microfori in un substrato di vetro, seguita dalla metallizzazione per stabilire la connettivit\u00e0 elettrica tra le due superfici.<\/p>\n\n\n\n<p>Dal punto di vista della produzione, il TGV non \u00e8 un singolo processo, ma un sistema integrato a pi\u00f9 stadi che combina le tecnologie di modifica laser, incisione a umido, metallizzazione, elettroplaccatura e planarizzazione.<\/p>\n\n\n\n<p>Rispetto alla tecnologia silicon via (TSV), la TGV offre:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Minore attenuazione del segnale RF<\/li>\n\n\n\n<li>Riduzione della capacit\u00e0 parassita<\/li>\n\n\n\n<li>Miglioramento della stabilit\u00e0 della trasmissione ad alta frequenza<\/li>\n\n\n\n<li>Maggiore controllo dimensionale a livello di wafer<\/li>\n\n\n\n<li>Migliore compatibilit\u00e0 dell'integrazione ottico-elettrica<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<p>Queste caratteristiche rendono TGV particolarmente adatto ai moduli front-end RF, agli interposer per il packaging AI e alle piattaforme di integrazione optoelettronica.<\/p>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\">3. Capacit\u00e0 di ingegneria della formazione via (vista a livello di processo)<\/h2>\n\n\n\n<p>Negli ambienti di produzione industriale, la formazione di vie TGV \u00e8 tipicamente ottenuta attraverso un processo ibrido di modifica laser e incisione chimica.<\/p>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">3.1 Capacit\u00e0 di lavorazione strutturale<\/h3>\n\n\n\n<p>Le attuali gamme di capacit\u00e0 di processo mature includono:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li><strong>Rapporto d'aspetto fino a 15:1<\/strong><br>Supporto della formazione di vie profonde in substrati di vetro sottili.<\/li>\n\n\n\n<li><strong>Gamma di spessore del vetro: Da 0,2 mm a 1,5 mm<\/strong><br>Copre dispositivi ultrasottili e piattaforme di interposizione standard.<\/li>\n\n\n\n<li><strong>Controllo ad alta precisione geometrica:<\/strong>\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Circolarit\u00e0 &gt; 95%<\/li>\n\n\n\n<li>Rapporto vita\/fianchi &gt; 0,9<\/li>\n<\/ul>\n<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<p>Questi parametri indicano una morfologia stabile della via, che \u00e8 fondamentale per garantire una metallizzazione uniforme e ridurre al minimo le variazioni di resistenza elettrica.<\/p>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">3.2 Approfondimento ingegneristico (considerazione della stabilit\u00e0 del processo)<\/h3>\n\n\n\n<p>Dal punto di vista della produzione, il mantenimento della coerenza della geometria della via \u00e8 uno dei fattori determinanti per la resa. Profili di passaggio incoerenti possono portare a:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Deposizione non uniforme dello strato di seme<\/li>\n\n\n\n<li>Vuoto durante la galvanoplastica<\/li>\n\n\n\n<li>Aumento della variazione della resistenza elettrica<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<p>Pertanto, l'accuratezza dell'allineamento laser e il controllo dell'isotropia dell'incisione sono parametri di processo critici.<\/p>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\">4. Tecnologia di metallizzazione e riempimento del rame<\/h2>\n\n\n\n<p>La metallizzazione TGV \u00e8 ampiamente riconosciuta come una delle fasi pi\u00f9 impegnative dal punto di vista tecnico, a causa dell'elevato rapporto d'aspetto e della geometria confinata dei vial in vetro.<\/p>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">4.1 Processo di deposizione del rame multistrato<\/h3>\n\n\n\n<p>Un tipico flusso di processo industriale comprende:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Sputtering (formazione dello strato di seme)<\/li>\n\n\n\n<li>Deposizione di rame senza metalli<\/li>\n\n\n\n<li>Galvanotecnica (tramite riempimento)<\/li>\n\n\n\n<li>Lucidatura chimico-meccanica (CMP)<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<p>Questo approccio a pi\u00f9 fasi garantisce:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Percorsi conduttivi continui<\/li>\n\n\n\n<li>Distribuzione uniforme del rame lungo i fianchi del passaggio<\/li>\n\n\n\n<li>Prestazioni elettriche stabili nelle strutture a livello di wafer<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">4.2 Sfide dell'ingegneria di processo<\/h3>\n\n\n\n<p>Sulla base delle caratteristiche dei processi industriali, le principali sfide tecniche includono:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Limitazione del trasporto di massa in vias ad alto rapporto d'aspetto<\/li>\n\n\n\n<li>Uniformit\u00e0 di distribuzione degli ioni durante la galvanoplastica<\/li>\n\n\n\n<li>Accumulo di stress durante la deposizione di rame<\/li>\n\n\n\n<li>Affidabilit\u00e0 dell'interfaccia di adesione tra strati di vetro e metallo<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<p>Per mitigare questi effetti sono necessari una progettazione avanzata del sistema di placcatura e l'ottimizzazione del campo di flusso.<\/p>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\">5. Architettura del sistema di apparecchiature e integrazione dei processi<\/h2>\n\n\n\n<p>Nelle linee di produzione di TGV industriali, le prestazioni delle apparecchiature determinano direttamente la resa del processo, soprattutto in ambienti umidi.<\/p>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">5.1 Sistema di asciugatura e di controllo dei difetti<\/h3>\n\n\n\n<p>Dopo le fasi di lavorazione a umido, vengono utilizzati sistemi di essiccazione via:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Riduzione della microfessurazione indotta da residui liquidi<\/li>\n\n\n\n<li>Migliorare la stabilit\u00e0 strutturale dei vias incisi<\/li>\n\n\n\n<li>Aumento della resa complessiva nei processi di post-incisione<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">5.2 Ottimizzazione del processo del rame e dell'affidabilit\u00e0 meccanica<\/h3>\n\n\n\n<p>Le apparecchiature di processo legate al rame contribuiscono a:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Riduzione delle rotture meccaniche durante la lucidatura<\/li>\n\n\n\n<li>Maggiore forza di adesione tra gli strati<\/li>\n\n\n\n<li>Maggiore affidabilit\u00e0 della via in caso di cicli termici<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">5.3 Controllo di precisione della modifica laser<\/h3>\n\n\n\n<p>I sistemi laser utilizzati nella formazione dei TGV forniscono:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Percorsi di modifica stabili in materiali di vetro fragili<\/li>\n\n\n\n<li>Elevata perpendicolarit\u00e0 dei fianchi della via<\/li>\n\n\n\n<li>Allineamento posizionale accurato su substrati di grandi dimensioni<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<p>Questi fattori hanno un impatto significativo sull'uniformit\u00e0 dell'incisione a valle e sul tasso di successo della metallizzazione.<\/p>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\">6. Flusso del processo di produzione del TGV integrato<\/h2>\n\n\n\n<p>Un tipico sistema di produzione industriale di TGV pu\u00f2 essere suddiviso in tre moduli principali:<\/p>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">6.1 Modulo di formazione della via<\/h3>\n\n\n\n<p>Sequenza del processo:<\/p>\n\n\n\n<p>Modifica laser \u2192 Incisione a umido \u2192 Ispezione AOI<\/p>\n\n\n\n<p>Trasformazione del materiale:<\/p>\n\n\n\n<p>Substrato di vetro \u2192 Struttura passante in vetro di alta precisione<\/p>\n\n\n\n<p>Attrezzatura di base:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Sistema di incisione del vetro (Wet Bench)<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">6.2 Modulo di metallizzazione e riempimento<\/h3>\n\n\n\n<p>Sequenza del processo:<\/p>\n\n\n\n<p>Sputtering \u2192 Elettrodeposizione \u2192 Elettrodeposizione \u2192 CMP<\/p>\n\n\n\n<p>Attrezzatura di base:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Sistema di pre-pulizia del banco a umido<\/li>\n\n\n\n<li>Sistema di ramatura elettrolitica<\/li>\n\n\n\n<li>Sistema di galvanizzazione a doppio lato (configurazione di placcatura a rack)<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<p>Questo modulo determina la conduttivit\u00e0 elettrica e l'affidabilit\u00e0 a lungo termine.<\/p>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">6.3 Modulo di formazione del livello di ridistribuzione (RDL)<\/h3>\n\n\n\n<p>Sequenza del processo:<\/p>\n\n\n\n<p>Rivestimento con fotoresistenze \u2192 Litografia \u2192 Sviluppo \u2192 Incisione<\/p>\n\n\n\n<p>Attrezzatura di base:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Sistema di sviluppo a banco umido<\/li>\n\n\n\n<li>Sistema di incisione UBM (lavorazione del vetro a singolo wafer)<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<p>Questo stadio consente il routing dell'interconnessione laterale per l'integrazione a livello di chip.<\/p>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\">7. Affidabilit\u00e0 e sfide di produzione<\/h2>\n\n\n\n<p>Nonostante i suoi vantaggi, la tecnologia TGV deve ancora affrontare diverse sfide ingegneristiche e di industrializzazione:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Controllo dei vuoti di rame ad alto rapporto d'aspetto<\/li>\n\n\n\n<li>Gestione dello stress termico nei materiali di vetro fragili<\/li>\n\n\n\n<li>Soppressione delle microfessure durante le transizioni umido\/asciutto<\/li>\n\n\n\n<li>Controllo della contaminazione crociata in ambienti con banco umido<\/li>\n\n\n\n<li>Controllo dell'uniformit\u00e0 del substrato su grandi superfici<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<p>Dal punto di vista della resa industriale, queste sfide vengono affrontate principalmente attraverso l'ottimizzazione a livello di apparecchiature e l'integrazione dei processi, piuttosto che con miglioramenti in un singolo passaggio.<\/p>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\">8. Tendenze di sviluppo del settore e prospettive future<\/h2>\n\n\n\n<p>Sulla base delle attuali traiettorie di sviluppo del packaging dei semiconduttori, si prevede che la tecnologia TGV si evolver\u00e0 verso:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Rapporti d'aspetto superiori a 20:1<\/li>\n\n\n\n<li>Piattaforme di integrazione dei processi umidi completamente automatizzate<\/li>\n\n\n\n<li>Materiali di riempimento in rame a bassa sollecitazione e sistemi di barriera<\/li>\n\n\n\n<li>Strutture interposer ottimizzate per le alte frequenze (RF\/mmWave)<\/li>\n\n\n\n<li>Integrazione dell'AI computing e del packaging HPC<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<p>Con la rapida espansione dell'infrastruttura informatica guidata dall'intelligenza artificiale, si prevede che il TGV diventer\u00e0 una tecnologia abilitante fondamentale negli ecosistemi di packaging avanzato di prossima generazione.<\/p>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\">9. Conclusione<\/h2>\n\n\n\n<p><a href=\"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/it\/categoria-prodotto\/laser-drilling-machine\/\"><mark style=\"background-color:rgba(0, 0, 0, 0);color:#0693e3\" class=\"has-inline-color\">Tecnologia TGV (Through Glass Via) <\/mark><\/a>rappresenta un progresso fondamentale nell'ingegneria delle interconnessioni dei semiconduttori, trasformando i substrati di vetro da materiali isolanti passivi in piattaforme funzionali di interconnessione ad alta densit\u00e0.<\/p>\n\n\n\n<p>I suoi principali vantaggi tecnici includono:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Capacit\u00e0 di interconnessione verticale ad alta densit\u00e0<\/li>\n\n\n\n<li>Eccellenti prestazioni RF ed elettriche<\/li>\n\n\n\n<li>Stabilit\u00e0 dimensionale superiore<\/li>\n\n\n\n<li>Forte compatibilit\u00e0 con le architetture di packaging avanzate<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<p>Dal punto di vista industriale, il successo dell'implementazione del TGV dipende in larga misura dall'integrazione di sistemi di lavorazione laser, apparecchiature per l'incisione a umido e piattaforme avanzate di galvanizzazione.<\/p>\n\n\n\n<p>Con la continua evoluzione del packaging avanzato verso requisiti di prestazioni pi\u00f9 elevate e perdita di segnale pi\u00f9 bassa, si prevede che il TGV svolga un ruolo sempre pi\u00f9 importante nei sistemi di integrazione AI, RF e optoelettronici.<\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>1. Introduction: Industry Context and Engineering Background In advanced semiconductor packaging, the continuous demand for higher bandwidth, lower signal loss, and improved thermal stability is driving a transition from traditional organic substrates toward more advanced interconnect materials. Based on observed industrial development trends in advanced packaging and substrate manufacturing lines, glass substrates have increasingly demonstrated [&hellip;]<\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":2281,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"site-sidebar-layout":"default","site-content-layout":"","ast-site-content-layout":"default","site-content-style":"default","site-sidebar-style":"default","ast-global-header-display":"","ast-banner-title-visibility":"","ast-main-header-display":"","ast-hfb-above-header-display":"","ast-hfb-below-header-display":"","ast-hfb-mobile-header-display":"","site-post-title":"","ast-breadcrumbs-content":"","ast-featured-img":"","footer-sml-layout":"","ast-disable-related-posts":"","theme-transparent-header-meta":"","adv-header-id-meta":"","stick-header-meta":"","header-above-stick-meta":"","header-main-stick-meta":"","header-below-stick-meta":"","astra-migrate-meta-layouts":"set","ast-page-background-enabled":"default","ast-page-background-meta":{"desktop":{"background-color":"var(--ast-global-color-4)","background-image":"","background-repeat":"repeat","background-position":"center center","background-size":"auto","background-attachment":"scroll","background-type":"","background-media":"","overlay-type":"","overlay-color":"","overlay-opacity":"","overlay-gradient":""},"tablet":{"background-color":"","background-image":"","background-repeat":"repeat","background-position":"center center","background-size":"auto","background-attachment":"scroll","background-type":"","background-media":"","overlay-type":"","overlay-color":"","overlay-opacity":"","overlay-gradient":""},"mobile":{"background-color":"","background-image":"","background-repeat":"repeat","background-position":"center center","background-size":"auto","background-attachment":"scroll","background-type":"","background-media":"","overlay-type":"","overlay-color":"","overlay-opacity":"","overlay-gradient":""}},"ast-content-background-meta":{"desktop":{"background-color":"var(--ast-global-color-5)","background-image":"","background-repeat":"repeat","background-position":"center center","background-size":"auto","background-attachment":"scroll","background-type":"","background-media":"","overlay-type":"","overlay-color":"","overlay-opacity":"","overlay-gradient":""},"tablet":{"background-color":"var(--ast-global-color-5)","background-image":"","background-repeat":"repeat","background-position":"center center","background-size":"auto","background-attachment":"scroll","background-type":"","background-media":"","overlay-type":"","overlay-color":"","overlay-opacity":"","overlay-gradient":""},"mobile":{"background-color":"var(--ast-global-color-5)","background-image":"","background-repeat":"repeat","background-position":"center center","background-size":"auto","background-attachment":"scroll","background-type":"","background-media":"","overlay-type":"","overlay-color":"","overlay-opacity":"","overlay-gradient":""}},"footnotes":""},"categories":[24],"tags":[1107,1112,1106,1108,1110,1111,1109,1105,1104,1113],"class_list":["post-2280","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-industry-news","tag-advanced-semiconductor-packaging","tag-ai-chip-packaging-interposer","tag-glass-interposer-technology","tag-high-aspect-ratio-glass-via","tag-laser-drilling-glass-via-process","tag-rf-glass-substrate-interconnect","tag-tgv-electroplating-system","tag-tgv-manufacturing-process","tag-through-glass-via-technology","tag-wet-bench-tgv-process-equipment"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/2280","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=2280"}],"version-history":[{"count":1,"href":"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/2280\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":2282,"href":"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/2280\/revisions\/2282"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/media\/2281"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=2280"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=2280"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.zmsh-semitech.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=2280"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}